[发明专利]基于阵列旋转的综合孔径辐射计可见度相位误差校正方法

摘要

本发明提供一种基于阵列旋转的综合孔径辐射计可见度相位误差校正方法，该方法通过180度天线阵列旋转，使得被测场景的辐射信号分别被旋转前后天线阵列接收；利用天线阵元相位误差不随阵列旋转变化的特点，建立方程组，联立求解得到天线阵元相位误差，进而依据天线阵元相位误差修正可见度。本发明不依赖额外的内部噪声注入网络与外部辅助源，可利用观测场景本身对综合孔径辐射计可见度的阵元相位误差进行校正，有效降低传统综合孔径辐射计校正系统的复杂度。

主权项

1.基于阵列旋转的综合孔径辐射计可见度相位误差校正方法，包括以下步骤：(1)对每根天线a_p接收场景的微波热辐射信号放大、滤波、下变频和模数转换变换为数字信号，再将数字信号变换为数字复信号s_p(t)，其中t为离散时间变量；(2)计算两两天线的可见度E[]表示求平均值，上标H表示共轭转置，p，q＝1，...，N，N为天线总数；(3)将天线阵列整体旋转180度，重复步骤(1)和(2)得到旋转后两两天线的可见度(4)将相同天线对旋转前后的可见度相位相加，得到可见度与天线阵元相位误差的关系方程其中，分别表示的相位，α_p，α_q分别表示第p和第q天线阵元的相位误差；(5)求解可见度与天线阵元相位误差的关系方程得到各天线阵元的相位误差(6)依据求解得到的阵元相位误差计算相位误差校正后的可见度Vpqc=Vpqraw·exp[-j(α^p-α^q)].]]>