[发明专利]一种在Si基片上外延生长GaAs薄膜的方法无效

专利信息
申请号: 201210099098.1 申请日: 2012-04-06
公开(公告)号: CN102618922A 公开(公告)日: 2012-08-01
发明(设计)人: 赵志飞;李新华;文龙;郭浩民;步绍姜 申请(专利权)人: 中国科学院合肥物质科学研究院
主分类号: C30B25/16 分类号: C30B25/16;C30B29/42
代理公司: 合肥天明专利事务所 34115 代理人: 奚华保
地址: 230031 安徽省*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明涉及一种Si基生长GaAs薄膜分子束外延的方法,使用分子束外延设备在预处理的Si(111)衬底上先自催化生长1μm的GaAs纳米柱,之后降低温度使Ga液滴固化,气-液-固机制(Vapor-Liquid-Solid,VLS机制)的外延生长停止,主要侧向外延生长,逐步形成薄膜。一定时间后固化Ga液滴被覆盖,形成表面均匀、光滑的GaAs薄膜。本发明实现了在价格便宜的Si(111)衬底上制备高质量的GaAs晶体薄膜;外延层与衬底应力很小,且界面处的位错和缺陷密度被大幅度减小;外延生长为原位生长,不需要引入其它工艺,无外部污染杂质引入,制备工艺简单。
搜索关键词: 一种 si 基片上 外延 生长 gaas 薄膜 方法
【主权项】:
一种Si基生长GaAs薄膜分子束外延的方法,其特征在于:包括下述步骤:(1)、选取Si(111)衬底,并对Si(111)衬底清洗;(2)、将清洗后的Si(111)衬底在上制备Ga液滴,制备温度为620至640℃,Ga束流为2×10‑7Torr,生长时间为25‑35min;(3)、在Si(111)衬底上自催化生长1μm的纳米柱;自催化温度为540至560℃,Ga束流为1.5×10‑7Torr,As 束流为2×10‑6Torr,生长时间为10‑20min分钟;(4)、温度降至380‑420℃使Ga液滴固化,Ga束流为1.5×10‑7Torr,As 束流为2×10‑6Torr,生长时间为80‑100 min,生长形成GaAs薄膜。
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