[发明专利]一种热阻测试方法及装置无效

专利信息
申请号: 201210102711.0 申请日: 2012-04-10
公开(公告)号: CN103364431A 公开(公告)日: 2013-10-23
发明(设计)人: 赵丽;何为;刘哲;王玉;付红志 申请(专利权)人: 中兴通讯股份有限公司;电子科技大学
主分类号: G01N25/20 分类号: G01N25/20
代理公司: 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 代理人: 胡海国
地址: 518057 广东省深圳市南山*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种热阻测试方法及装置,所述方法为:在待测件的第一测试面一侧设置隔热部件,在所述隔热部件与待测件之间设置固定于待测件之上的加热部件,以及在待测件的第二测试面一侧设置散热部件,在热阻测试过程中,所述加热部件产生的热量通过所述隔热部件形成的单向导热通道透过所述待测件传递至所述散热部件,分别检测待测件的第一测试面与第二测试面的温度值并计算其绝对温差值ΔT,获取加热部件的功耗值P,并依据数学式R=ΔT/P获得待测件的热阻值R。本发明由于采用了能将加热部件产生的热量全部导入被测复合导热材料的隔热部件,避免了在热阻测试过程中加热部件产生的热量在环境中散失而导致热阻测试不精准的问题。
搜索关键词: 一种 测试 方法 装置
【主权项】:
一种热阻测试方法,其特征在于,在待测件的第一测试面一侧设置隔热部件,在所述隔热部件与待测件之间设置固定于待测件之上的加热部件,以及在待测件的第二测试面一侧设置散热部件,在热阻测试过程中,所述加热部件产生的热量通过所述隔热部件形成的单向导热通道透过所述待测件传递至所述散热部件,所述方法包括:分别检测待测件的第一测试面与第二测试面的温度值并计算其绝对温差值ΔT,获取加热部件的功耗值P,并依据数学式R=ΔT/P获得待测件的热阻值R。
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