[发明专利]衬底处理装置、及该装置用反应管的表面涂膜形成方法无效
申请号: | 201210104811.7 | 申请日: | 2012-04-06 |
公开(公告)号: | CN102738296A | 公开(公告)日: | 2012-10-17 |
发明(设计)人: | 西谷英辅;国井泰夫;丰田一行;桧山耕作;中筋智博;滨口龙哉;宫岛生欣 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立国际电气;东华隆株式会社 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/032;H01L21/67 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 杨宏军 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种衬底处理装置,所述衬底处理装置用于形成CIS类太阳能电池的光吸收层,进行硒化或硫化处理,其中,具有与石英制腔室相比易于加工的炉体,另外提供一种易于处置的腔室。所述衬底处理装置具有:处理室,容纳有多个衬底,所述衬底形成有由铜-铟、铜-镓或铜-铟-镓中的任一种形成的层合膜;反应管,以构成处理室的方式形成;气体供给管,向处理室中导入含硒元素气体或含硫元素气体;排气管,将处理室内的气体排出;及加热部,以包围上述反应管方式设置,其中,反应管的基材由不锈钢等金属材料形成,反应管的表面形成有多孔状涂膜,所述多孔状涂膜以氧化铬及氧化硅的混合物作为主要成分、且具有5%至15%的空隙率。 | ||
搜索关键词: | 衬底 处理 装置 反应 表面 形成 方法 | ||
【主权项】:
一种衬底处理装置,具有:处理室,容纳多个衬底,所述衬底形成有由铜‑铟、铜‑镓或铜‑铟‑镓中的任一种形成的层合膜;反应管,以构成所述处理室的方式形成;气体供给管,向所述处理室中导入含硒元素气体或含硫元素气体;排气管,将所述处理室内的气体排出;及加热部,以包围所述反应管的方式设置,所述反应管的靠所述处理室侧的表面中的、至少暴露在所述含硒元素气体或含硫元素气体中的表面具有多孔状涂膜,所述多孔状涂膜以氧化铬及氧化硅的混合物作为主要成分、且具有5%至15%的空隙率,所述氧化铬以CrxOy表示,其中,x、y为1以上的任意整数,所述氧化硅以SixOy表示,其中,x、y为1以上的任意整数。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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