[发明专利]一种继电保护装置单板自动测试方法有效

专利信息
申请号: 201210105010.2 申请日: 2012-04-11
公开(公告)号: CN102621432A 公开(公告)日: 2012-08-01
发明(设计)人: 徐刚;张涛;肖鲲;刘安 申请(专利权)人: 北京四方继保自动化股份有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 北京金阙华进专利事务所(普通合伙) 11224 代理人: 吴鸿维
地址: 100085 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种继电保护装置单板自动测试方法,这种方法是将单板插件上的程序中加入一个钩子函数,当有测试程序数据包发送过来的时候,钩子函数会获取相应的数据包,并将其存放到一个可执行的RAM区。应用程序会自动跳转到这个RAM区执行测试程序,测试单板的各项功能是否正常,当单板掉电并再次上电后,应用程序自检RAM后,清理可执行RAM区数据包,测试程序被自动删除。这种方法可以为继电保护设备的单板测试带来方便,减少单板调试步骤,提高生产效率。
搜索关键词: 一种 保护装置 单板 自动 测试 方法
【主权项】:
一种继电保护装置单板自动测试方法,其特征在于,所述自动测试方法包括以下步骤:(1)将自动测试程序做为数据包存放在测试后台;(2)在继电保护装置各单板的应用程序中,设置一个钩子函数用来响应自动测试程序数据包消息;(3)当需要对继电保护装置单板进行测试时,测试后台将所述自动测试程序下传至相应的继电保护装置单板;(4)当继电保护装置单板中的钩子函数接收到该数据包时,将所述数据包存放到单板中的一个可执行RAM区,之后判断自动测试程序是否校验通过(5)自动测试程序校验通过后应用程序跳转到RAM区,开始执行自动测试程序,所述自动测试程序首先判断是否需要测试RAM区,如需要将测试程序转移到flash中运行测试RAM区是否完好,测试完成后再将程序移回RAM区进入测试服务响应流程,如不需要测试RAM区,则直接进入测试服务响应流程;(6)测试服务响应流程初始化完毕后,等待测试后台发送的测试服务命令,接到测试服务命令后,开始传送测试配置信息,测试配置信息传送成功后进行单项测试,直到响应完所有的测试服务命令后退出测试程序;(7)测试进度和测试结果通过待测单板上的指定端口实时发送至上位机显示,当测试结束后单板掉电并再次上电,应用程序自检RAM时,清理可执行RAM区数据包,测试程序被自动删除。
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