[发明专利]光掩模用基板、光掩模以及图案转印方法有效
申请号: | 201210105308.3 | 申请日: | 2012-04-11 |
公开(公告)号: | CN102736398A | 公开(公告)日: | 2012-10-17 |
发明(设计)人: | 土屋雅誉;池边寿美 | 申请(专利权)人: | HOYA株式会社 |
主分类号: | G03F1/38 | 分类号: | G03F1/38;G03F7/20;G02B5/20 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 李辉;黄纶伟 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供光掩模用基板、光掩模以及图案转印方法,在进行接近式曝光时,提高保持区域附近的图案转印精度。一种光掩模用基板,其用于在第1主表面上形成转印用图案而成为光掩模,在该光掩模用基板中,在四边形的第1主表面上的形成有转印用图案的图案区域之外,在第1主表面的相对的两边附近,具有包含抵接面的保持区域,当曝光机保持光掩模时,保持部件与抵接面抵接,关于保持区域,在设保持区域内的平坦度指数为Fsx、保持区域外的平坦度指数为Fex时,满足Fsx≤Fex。 | ||
搜索关键词: | 光掩模用基板 光掩模 以及 图案 方法 | ||
【主权项】:
一种光掩模用基板,其用于在第1主表面上形成转印用图案而成为光掩模,该光掩模用基板的特征在于,在四边形的所述第1主表面上的形成所述转印用图案的图案区域之外,在所述第1主表面的相对的两边附近,具有包含抵接面的保持区域,当曝光机保持所述光掩模时,保持部件与所述抵接面抵接,关于所述保持区域,在设该保持区域内的、处于与所述两边垂直的直线上的相隔P的任意两点的高低差是Zsx时的[Zsx/P]为平坦度指数Fsx,设该保持区域外的、处于与所述两边垂直的直线上的相隔P的任意两点的高低差是Zex时的[Zex/P]为平坦度指数Fex时,满足Fsx≤Fex,其中,所述Zsx和Zex的单位是μm,所述P的单位是mm。
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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