[发明专利]光掩模用基板、光掩模以及图案转印方法有效

专利信息
申请号: 201210105308.3 申请日: 2012-04-11
公开(公告)号: CN102736398A 公开(公告)日: 2012-10-17
发明(设计)人: 土屋雅誉;池边寿美 申请(专利权)人: HOYA株式会社
主分类号: G03F1/38 分类号: G03F1/38;G03F7/20;G02B5/20
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 李辉;黄纶伟
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供光掩模用基板、光掩模以及图案转印方法,在进行接近式曝光时,提高保持区域附近的图案转印精度。一种光掩模用基板,其用于在第1主表面上形成转印用图案而成为光掩模,在该光掩模用基板中,在四边形的第1主表面上的形成有转印用图案的图案区域之外,在第1主表面的相对的两边附近,具有包含抵接面的保持区域,当曝光机保持光掩模时,保持部件与抵接面抵接,关于保持区域,在设保持区域内的平坦度指数为Fsx、保持区域外的平坦度指数为Fex时,满足Fsx≤Fex。
搜索关键词: 光掩模用基板 光掩模 以及 图案 方法
【主权项】:
一种光掩模用基板,其用于在第1主表面上形成转印用图案而成为光掩模,该光掩模用基板的特征在于,在四边形的所述第1主表面上的形成所述转印用图案的图案区域之外,在所述第1主表面的相对的两边附近,具有包含抵接面的保持区域,当曝光机保持所述光掩模时,保持部件与所述抵接面抵接,关于所述保持区域,在设该保持区域内的、处于与所述两边垂直的直线上的相隔P的任意两点的高低差是Zsx时的[Zsx/P]为平坦度指数Fsx,设该保持区域外的、处于与所述两边垂直的直线上的相隔P的任意两点的高低差是Zex时的[Zex/P]为平坦度指数Fex时,满足Fsx≤Fex,其中,所述Zsx和Zex的单位是μm,所述P的单位是mm。
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