[发明专利]一种测量光斑大小的方法有效
| 申请号： | 201210109842.1 | 申请日： | 2012-04-16 |
| 公开（公告）号： | CN102620655A | 公开（公告）日： | 2012-08-01 |
| 发明（设计）人： | 陈为;廖胜;李华;任栖峰;韩维强;谭述亮;李强;魏红艳;周金梅;时全领 | 申请（专利权）人： | 中国科学院光电技术研究所 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00 |
| 代理公司： | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人： | 杨学明;顾炜 |
| 地址： | 610209 *** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测量光斑大小的方法，采用光学系统物方扫描的方法，使得光斑依次通过阵列探测器中相邻两个探测元，获取探测器中相邻两个探测元的响应曲线，根据响应曲线的特征提取光斑大小。利用本发明能够提高大占空比探测器中光斑大小的测量精度，并且简单、可行，对于相关的光学测量具有很好的使用价值。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 光斑 大小 方法 | ||
【主权项】：
一种测量光斑大小的方法，其特征在于：该方法采用光斑依次通过阵列探测器中相邻两个探测元，获取探测器中相邻两个探测元的响应曲线，根据响应曲线的特征提取光斑大小。
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