[发明专利]非接触式磁性颗粒检查设备无效
| 申请号： | 201210114999.3 | 申请日： | 2012-04-11 |
| 公开（公告）号： | CN102735744A | 公开（公告）日： | 2012-10-17 |
| 发明（设计）人： | R·W·伯格曼 | 申请（专利权）人： | 通用电气公司 |
| 主分类号： | G01N27/82 | 分类号： | G01N27/82 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 李强;谭祐祥 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及非接触式磁性颗粒检查设备。一种非接触式磁性颗粒检查设备包括测试物品支承和操纵系统，测试物品支承和操纵系统具有沿着第一轴线延伸的第一轨道、沿着第一轴线延伸的第二轨道，以及沿着第二轴线延伸的第三轨道。第三轨道包括通过中间部分延伸到第二端的第一端。第一端安装到第一轨道上，而第二端安装到第二轨道上。安装夹具安装到第三轨道上。安装夹具包括测试物品安装系统和测试物品定向系统。测试物品定向系统构造成和设置成在磁场内选择性地操纵测试物品。 | ||
| 搜索关键词： | 接触 磁性 颗粒 检查 设备 | ||
【主权项】：
一种非接触式磁性颗粒检查设备(2)，包括：测试物品支承和操纵系统(34)，其包括沿着第一轴线延伸的第一轨道(38)、沿着所述第一轴线延伸的第二轨道(39)，以及沿着第二轴线延伸的第三轨道(70)，所述第三轨道(70)具有通过中间部分(43，49，74)延伸到第二端(42，48，73)的第一端(41，47，72)，所述第一端(41，47，72)安装到所述第一轨道(38)上，而所述第二端(42，48，73)安装到所述第二轨道(39)上；以及安装到所述第三轨道(70)上的安装夹具(90)，所述安装夹具(90)包括测试物品安装系统(93)和测试物品定向系统(95)，所述测试物品定向系统(95)构造成和设置成在磁场(25)内选择性地操纵测试物品(114)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于通用电气公司，未经通用电气公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201210114999.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
