[发明专利]基于工业CT扫描技术的体积测量方法无效

专利信息
申请号: 201210121485.0 申请日: 2012-04-24
公开(公告)号: CN102628682A 公开(公告)日: 2012-08-08
发明(设计)人: 邹永宁;王珏;伍立芬;陶李;段伟伟 申请(专利权)人: 重庆大学
主分类号: G01B15/00 分类号: G01B15/00;G06T7/00
代理公司: 北京同恒源知识产权代理有限公司 11275 代理人: 王海权
地址: 400044 重*** 国省代码: 重庆;85
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 基于工业CT扫描技术的体积测量方法,具体步骤如下:1)提取边缘:采用Zernike矩对二维图像提取亚像素级边缘;2)多项式拟合:对边缘点进行多项式最小二乘拟合,将拟合后的点坐标转化为极坐标;3)层间匹配:对步骤2)中的拟合函数曲线进行等相角间隔采样,并建立同相角的轮廓点匹配;4)层间插值:采用层间插值算法得到中间层的轮廓点;5)预测顶端:采用灰度外插法,预估工件顶端点;6)测量体积:根据三维拟合轮廓数据,利用台体法计算工件体积。基于Zernike矩与最小二乘拟合算法在面积和体积测量精度上比以往的算法高5倍,甚至10倍以上,且解决了实际测量过程中由于容积效应或扫描不完全带来的缺顶问题。
搜索关键词: 基于 工业 ct 扫描 技术 体积 测量方法
【主权项】:
基于工业CT扫描技术的体积测量方法,其特征在于,具体步骤如下:1)提取边缘,采用Zernike矩对CT扫描得到的二维图像提取亚像素级边缘;2)边缘点多项式拟合,对步骤1)中提取出来的边缘点进行多项式最小二乘拟合,得到拟合函数,根据拟合函数将拟合后的点坐标转换为极坐标;3)层间匹配,对步骤2)中的拟合函数曲线进行等相角间隔采样,并建立同相角的轮廓点匹配;4)层间插值,对匹配后的边缘轮廓点采用层间插值拟合算法,得到该相角下各中间层的轮廓点坐标;5)预测顶端,对插值拟合后的层间轮廓采用灰度外插法,预估工件顶端点坐标,根据顶端点坐标进行补顶处理;6)测量体积,根据层间值后的三维拟合轮廓数据,首先计算各中间层切片二维面积,再利用台体法计算工件体积。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于重庆大学,未经重庆大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210121485.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top