[发明专利]性能瓶颈诊断方法和设备有效
申请号: | 201210123831.9 | 申请日: | 2012-04-25 |
公开(公告)号: | CN102708029A | 公开(公告)日: | 2012-10-03 |
发明(设计)人: | 王勇 | 申请(专利权)人: | 华为技术有限公司 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 刘芳 |
地址: | 518129 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提供一种性能瓶颈诊断方法和设备。该方法包括将TPC-C性能测试衡量的事务划分为多个最小环节;当所述TPC-C性能测试得到的TPC-C值达到预设的性能参考值时,获取所述事务的每个最小环节消耗的第一时间;当所述TPC-C性能测试得到的TPC-C值达到预设的性能瓶颈值时,获取所述事务的每个最小环节消耗的第二时间;分别比较所述每个最小环节的第一时间和第二时间,将第二时间大于第一时间的最小环节确定为瓶颈环节,并根据预先设定的专家库确定所述瓶颈环节对应的根原因,所述专家库用于保存瓶颈环节对应的现象以及原因的对应关系。本发明实施例可以提高TPC-C性能测试时的诊断效果。 | ||
搜索关键词: | 性能 瓶颈 诊断 方法 设备 | ||
【主权项】:
一种性能瓶颈诊断方法,应用于事务交易性能委员会基准测试CTPC‑C性能测试中,其特征在于,包括:将TPC‑C性能测试衡量的事务划分为多个最小环节;当所述TPC‑C性能测试得到的TPC‑C值达到预设的性能参考值时,获取所述事务的每个最小环节消耗的第一时间;当所述TPC‑C性能测试得到的TPC‑C值达到预设的性能瓶颈值时,获取所述事务的每个最小环节消耗的第二时间;分别比较所述每个最小环节的第一时间和第二时间,将第二时间大于第一时间的最小环节确定为瓶颈环节,并根据预先设定的专家库确定所述瓶颈环节对应的根原因,所述专家库用于保存瓶颈环节对应的现象以及原因的对应关系。
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