[发明专利]测量截止波长的方法无效
| 申请号： | 201210128493.8 | 申请日： | 2012-04-27 |
| 公开（公告）号： | CN102759406A | 公开（公告）日： | 2012-10-31 |
| 发明（设计）人： | 中西哲也 | 申请（专利权）人： | 住友电气工业株式会社 |
| 主分类号： | G01J9/00 | 分类号： | G01J9/00;G01M11/02 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 顾红霞;何胜勇 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明公开一种测量测试光纤的高阶模的截止波长的方法。本发明的上述方法包括：第一步，测量从光源输出的光的功率谱P1(λ)；第二步，当从光源输出的光入射到以允许曲率在纵向上变化的形状放置的测试光纤的一端时，测量从测试光纤的另一端发出的光的功率谱P2(λ)；第三步，获取表示功率谱P2(λ)与功率谱P1(λ)之间的差异的差光谱P(λ)；以及第四步，基于差光谱P(λ)获取测试光纤的高阶模的截止波长。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 截止 波长 方法 | ||
【主权项】：
一种测量测试光纤的高阶模的截止波长的方法，所述方法包括：第一步，测量从光源输出的光的功率谱P1(λ)[dB]；第二步，当从所述光源输出的光入射到以允许曲率在纵向上变化的形状放置的所述测试光纤的一端时，测量从所述测试光纤的另一端发出的光的功率谱P2(λ)[dB]；第三步，获取表示所述功率谱P2(λ)与所述功率谱P1(λ)之间的差异的差光谱P(λ)；以及第四步，基于所述差光谱P(λ)获取所述测试光纤的高阶模的截止波长。
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