[发明专利]有源天线系统下行、上行无线指标的测试方法及装置有效
| 申请号： | 201210134494.3 | 申请日： | 2012-05-03 |
| 公开（公告）号： | CN102684800A | 公开（公告）日： | 2012-09-19 |
| 发明（设计）人： | 雷龙刚;王鹏;王博明;李香玲 | 申请（专利权）人： | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/00 | 分类号： | H04B17/00 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 余刚;梁丽超 |
| 地址： | 518057 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种有源天线系统下行、上行无线指标的测试方法及装置，其中，上述下行无线指标的测试方法在吸波暗室或者无信号干扰空间中进行，包括：获取所述吸波暗室或者无信号干扰空间的校准参数；将有源天线系统配置为向接收天线发射无线波束，其中，所述无线波束由来自于所述吸波暗室或者无信号干扰空间外的基带处理单元的基带信号触发产生并经由所述接收天线传至所述吸波暗室或者无信号干扰空间外的测试仪表；启动所述基带处理单元和所述有源天线系统，并根据所述校准参数对调整后的有源天线系统进行无线指标测试。采用本发明提供的上述技术方案，实现了对有源天线系统的各项无线指标的测试。 | ||
| 搜索关键词： | 有源 天线 系统 下行 上行 无线 指标 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种有源天线系统下行无线指标的测试方法，其特征在于，所述方法在吸波暗室或者无信号干扰空间中进行，包括：获取所述吸波暗室或者无信号干扰空间的校准参数；将有源天线系统配置为向接收天线发射无线波束，其中，所述无线波束由来自于所述吸波暗室或者无信号干扰空间外的基带处理单元的基带信号触发产生并经由所述接收天线传至所述吸波暗室或者无信号干扰空间外的测试仪表；启动所述基带处理单元和所述有源天线系统，并根据所述校准参数对调整后的有源天线系统进行无线指标测试。
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