[发明专利]电感有效
申请号: | 201210139654.3 | 申请日: | 2012-05-08 |
公开(公告)号: | CN103390605A | 公开(公告)日: | 2013-11-13 |
发明(设计)人: | 黄景丰 | 申请(专利权)人: | 上海华虹NEC电子有限公司 |
主分类号: | H01L23/522 | 分类号: | H01L23/522 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人: | 丁纪铁 |
地址: | 201206 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种电感,包括电感线圈和衬底结构。衬底结构包括:P型半导体衬底、N型外延层和多个条形结构的采用光刻和离子注入工艺形成的P型掺杂区。P型掺杂区的深度大于等于N型外延层的厚度。P型掺杂区将N型外延层分隔成多个N型掺杂区,并形成N型掺杂区和P型掺杂区交替排列的结构。交替排列的N型掺杂区和P型掺杂区能够在衬底中形成耗尽区,使衬底呈高阻状态,从而能阻断衬底涡流;耗尽区还会减少衬底的寄生电容,能够提高器件的品质因素。本发明并不需要深沟槽隔离工艺,工艺成本低。 | ||
搜索关键词: | 电感 | ||
【主权项】:
一种电感,包括电感线圈和衬底结构,所述电感线圈位于所述衬底结构上方,且所述电感线圈和所述衬底结构相隔离有一层绝缘介质层,其特征在于,所述衬底结构包括:一P型半导体衬底;一形成于所述半导体衬底上的N型外延层;多个条形结构的P型掺杂区,各所述P型掺杂区都为由光刻工艺定义的离子注入区,各所述P型掺杂区穿过所述N型外延层并和所述半导体衬底相接触,各所述P型掺杂区的深度大于等于所述N型外延层的厚度;各所述P型掺杂区将所述N型外延层分隔成多个N型掺杂区,并形成所述N型掺杂区和所述P型掺杂区交替排列的结构,各所述P型掺杂区和其邻近的所述N型掺杂区组成PN结,交替排列的所述N型掺杂区和所述P型掺杂区位于所述电感线圈的正下方并用于减少涡流。
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