[发明专利]阵列基板检测信号分配装置和检测设备有效
申请号: | 201210147740.9 | 申请日: | 2010-01-04 |
公开(公告)号: | CN102681226A | 公开(公告)日: | 2012-09-19 |
发明(设计)人: | 李国烈 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;成都京东方光电科技有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13;G01R31/02 |
代理公司: | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人: | 黄志华 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种阵列基板检测信号分配装置和检测设备,该阵列基板检测信号分配装置包括至少两个MUX和向MUX依次分配使能信号的DMUX,以及多个继电器和继电器控制模块,其中,所述多个继电器设置在所述MUX之间的短路配线上;所述继电器控制模块,与各个所述继电器相连,用于在进行光电检测时输出闭合信号控制各个所述继电器闭合,且在进行短路检测时输出断开信号控制各个所述继电器断开。本发明的阵列基板检测设备包括上述阵列基板检测信号分配装置。通过本发明,使多个MUX在进行ESS检测时依次提供检测信号,而在进行光电检测时同时提供检测信号,因此提高阵列基板检测效率,提高ESS检测的准确性。 | ||
搜索关键词: | 阵列 检测 信号 分配 装置 设备 | ||
【主权项】:
一种阵列基板检测信号分配装置,包括至少两个多路复用板和向所述多路复用板依次分配使能信号的多路输出选择器,其特征在于,还包括:多个继电器,设置在所述多路复用板之间的短路配线上;继电器控制模块,与各个所述继电器相连,用于在进行光电检测时输出闭合信号控制各个所述继电器闭合,且在进行短路检测时输出断开信号控制各个所述继电器断开。
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