[发明专利]流体折射率探测器无效
| 申请号： | 201210148893.5 | 申请日： | 2012-05-14 |
| 公开（公告）号： | CN102645418A | 公开（公告）日： | 2012-08-22 |
| 发明（设计）人： | 胡艾青;梁斌明;蒋强;王荣;张礼朝 | 申请（专利权）人： | 上海理工大学 |
| 主分类号： | G01N21/41 | 分类号： | G01N21/41 |
| 代理公司： | 上海德昭知识产权代理有限公司 31204 | 代理人： | 郁旦蓉 |
| 地址： | 200093 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种基于二维光子晶体负折射效应的流体折射率探测器包括发射探测光的激光器，使探测光经过其所承载的待测流体而只发生一次负折射效应在其外表面上产生负折射光的光子晶体，接收所有负折射光并测定负折射光的负折射功率的光功率探头，根据负折射功率计算出待测流体的折射率的计算部。本发明提供的流体折射率探测器结构简单、体积小巧、测量精度高、响应速度快、操作方便，性能稳定可靠，能够有效的减小杂散光的干扰问题。 | ||
| 搜索关键词： | 流体 折射率 探测器 | ||
【主权项】：
一种基于二维光子晶体负折射效应的流体折射率探测器，其特征在于，包括：激光器，发射探测光；光子晶体，使所述探测光经过其所承载的待测流体而只发生一次负折射效应在其外表面上产生负折射光；光功率探头，接收所有所述负折射光并测定所述负折射光的负折射功率的；计算部，根据所述负折射功率计算出所述待测流体的折射率。
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