[发明专利]采用金属有机化合物气相外延技术生长非对称电子储蓄层高亮度发光二极管的方法有效
申请号: | 201210151216.9 | 申请日: | 2012-05-16 |
公开(公告)号: | CN102664145A | 公开(公告)日: | 2012-09-12 |
发明(设计)人: | 贾传宇;殷淑仪;高宗伟;孙永建;张国义 | 申请(专利权)人: | 东莞市中镓半导体科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/205 | 分类号: | H01L21/205;H01L33/00 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 谭一兵;蔡晓军 |
地址: | 523518 *** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明涉及一种发光二极管的制作方法,公开了一种采用金属有机化合物气相外延技术生长非对称电子储蓄层高亮度发光二极管的方法,改善有源区晶体质量,提高发光器件内量子效率。本发明在金属有机化合物气相外延反应室中将蓝宝石AllO3衬底在氢气气氛下,三维生长20~30纳米的GaN缓冲层,再在1000~1500℃下生长2~4微米厚n-GaN层;在氮气气氛下,生长n型非对称In组分渐变的电子注入层,在氢气氛下,在950~1040℃生长p型AlGaN电子阻挡层和p-GaN层。本发明所涉及工艺流程均在外延生长中完成,不需要附加芯片工艺流程,具有工艺流程相对简单,可重复性好,附加成本低等优点。 | ||
搜索关键词: | 采用 金属 有机化合物 外延 技术 生长 对称 电子 储蓄 层高 亮度 发光二极管 方法 | ||
【主权项】:
一种采用金属有机化合物气相外延技术生长非对称电子储蓄层高亮度发光二极管的方法,采用金属有机化合物气相外延方法,通过在n‑GaN和InGaN有源层之间引入非对称的渐变In组分的电子注入层,改善电流扩展,提高LED发光效率,使用三甲基镓、三甲基铟、三甲基铝作为III族源,氨气作为V族源,硅烷作为n型掺杂源,二茂镁作为p型掺杂源,其特征在于,该方法包括以下步骤:步骤一、在金属有机化合物气相外延反应室中将蓝宝石AllO3衬底在氢气气氛下,1040~1200℃处理5分钟,然后降低温度,在530~550℃,反应室压力 500 torr,在氢气气氛下,三维生长20~30 纳米的GaN缓冲层,再在1000~1500℃下生长2~4微米厚n‑GaN层; 步骤二、在氮气气氛下,在750~850℃下生长n型非对称In组分渐变的电子注入层,接着生长5~10周期InxGa1‑xN/GaN多量子阱有源区,其中0.01≤x≤0.3,电子注入层中最大In组分小于有源区中In组分;步骤三、在氢气氛下,在950~1040℃生长p型AlGaN电子阻挡层和p‑GaN层。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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