[发明专利]有机EL 显示器的修复方法有效
申请号: | 201210152424.0 | 申请日: | 2012-05-16 |
公开(公告)号: | CN102790011A | 公开(公告)日: | 2012-11-21 |
发明(设计)人: | 宫泽和利 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
主分类号: | H01L21/77 | 分类号: | H01L21/77 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 贾静环 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种有机EL显示器的修复方法。所述有机EL显示器的修复方法在有机EL显示器的制造中,在像素电极中混入异物或在像素电极的表面附着异物并因该异物产生缺陷的情况下,仅简单地局部修复缺陷部,且在修复后不会产生对修复部周围的损伤。在有机EL显示器的制造中,通过检测混入到像素电极的异物,针对混入到像素电极的异物,向下方压下前端为半球状的微细的针,使异物和像素电极的一部分一起塑性变形,将异物嵌入像素电极内,由此修复异物导致的缺陷。通过将异物压入像素电极来防止因异物引起的短路缺陷。 | ||
搜索关键词: | 有机 el 显示器 修复 方法 | ||
【主权项】:
一种有机EL显示器的修复方法,其为能够制造有机EL显示器的有机EL显示器的修复方法,所述有机EL显示器具有:含TFT的具有驱动电路的基板,以及在所述基板上配置成矩阵状的多个有机EL元件,且所述有机EL元件含有配置于所述基板上的像素电极、配置于像素电极上的有机层、以及配置于所述有机层上的对置电极,其特征在于,所述修复方法包括:在所述基板上形成像素电极从而对应于各有机EL元件的工序;检测混入到所述像素电极的异物的工序;以及将混入到所述像素电极的异物压入所述像素电极的内部的工序。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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