[发明专利]回转窑筒体动态轴线和弯曲的检测和监测方法及测量系统有效

专利信息
申请号: 201210157543.5 申请日: 2012-05-21
公开(公告)号: CN102654396A 公开(公告)日: 2012-09-05
发明(设计)人: 张云;其他发明人请求不公开姓名 申请(专利权)人: 武汉理工大学
主分类号: G01B21/22 分类号: G01B21/22
代理公司: 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 代理人: 张安国;伍见
地址: 430070 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 一种回转窑筒体动态轴线和弯曲的检测和监测方法及测量系统,该系统包括:测距测角的仪器、短距离测量仪、筒体位置传感器及微机系统。在回转窑两侧建立坐标系和2平行垂面,用测距测角的仪器在远离窑的2垂面处,直接测定各窑体水平直径线上各点到2垂面的水平距离,测定窑体垂直直径线各点到坐标系的高差,其测距精度≤±1毫米。本发明在地面操作测量系统,安全快捷,完全避免回转窑震动和高温及人为读数误差等因素对测量的影响,保证回转窑筒体中心点和弯曲的测量精度≤1.5毫米;明显简化测量过程,极大提高测量效率。
搜索关键词: 回转 窑筒体 动态 轴线 弯曲 检测 监测 方法 测量 系统
【主权项】:
一种回转窑筒体轴线和弯曲的动态检测和监测方法,在回转窑外建立直角坐标系X、Y、Z,在回转窑两侧建立2个间距为D的垂面Q和Q′,在X方向各Xi截面处,i=1、2……n,测量如下参数以确定回转窑筒体动态轴线坐标参数:回转窑水平和垂直直径线上外径边缘3个点分别到垂面Q和Q′及到各档水平基准平面的垂直距离、坐标系原点到各档水平基准面的高度Hi、各轮带与筒体的动态间隙,用1固定的位置传感器测定筒体旋转周期,其特征是: (1) 平均横坐标Yi的确定:平行X轴的2个垂面Q和Q′平行于回转窑轴线,在垂直于X轴的X=Xi截面处与垂面Q和Q′相交于地面或其它构筑物上的各测点Xi和Xi′上,i=1、2……n,检测方法是用1个带微机的测距测角的仪器分别垂直于垂面Q和Q′,直接测定各轮带或筒体水平直径线上外径2个点到垂面Q和Q′的水平距离数据di(j)和di(j)′;同理,监测方法是用2i个带微机的测距测角的仪器垂直于垂面Q和Q′,同时直接测定各外径第2i个点到垂面Q和Q′的水平距离数据di(j)和di(j)′;按筒体旋转周期把筒体分为j等分角度来处理这些测量数据,j=1、2……m ,计算公式如下:平均值di=[di(1)+ di(2)+……di(m)]/m ,平均值di′=[di(1)′+di(2)′+……di(m)′]/m 垂面Q到各档筒体轴线的平均横坐标 Yi =[D+ di‑ di′]/2,其第j个分度处横坐标  Yi(j)= [D+ di(j )‑ di(j )′]/2; (2) 平均纵坐标Zi的确定:检测方法是分别在各Xi处的轮带或筒体正下方垂直安装1个短距离测量仪;同理,监测方法是同时在各坐标Xi处垂直安装第i个短距离测量仪;由短距离测量仪测定回转窑第j分度处的垂直距离Pi(j),按筒体旋转周期把筒体分为j等分角度来处理这些测量数据,用测距测角的仪器测定各档水平基准面Hi到各自距离测量仪的高度hi,计算公式如下:平均垂直距离 Pi =[Pi(1)+ Pi(2)+……Pi(m)]/m,轮带或筒体的平均半径 R i=(D‑ di‑ di′) /2,坐标系原点到各档筒体轴线的平均纵坐标 Zi = Hi+hi+Pi +(R i ‑ψi/2) cos a式中ψi为轮带动态间隙,当Xi不在轮带处则间隙ψi为0,a为窑体设计斜度。
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