[发明专利]提高快闪存储器的页编程速度的方法

摘要

本发明公开一种快闪存储器的页编程方法，包括以下步骤：S41，将页的信息加载到快闪存储器；S42，根据灵敏放大器能力，设定校验子区块大小，以校验子区块为单位遍历页地址进行校验；判断校验是否全部通过；S43，进行第一圈编程：即根据漏极泵能力设定编程子区块大小，以编程子区块为单位遍历页地址进行编程；S44，重复S42；S45，进行第二圈编程：即根据漏极泵能力设定编程子区块大小，以编程子区块为单位遍历页地址进行编程；S46，重复S42；S47，进行第三圈编程：即重复S45；S48，重复S42。本发明可避免对同一子区块反复“校验—编程—校验”、灵活地设定子区块大小、不遍历整个页地址，从而提高页编程速度。

主权项

一种快闪存储器的页编程方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤S41，将稍后要用于编程的一个页的01序列编程信息加载到快闪存储器后，转入步骤S42；步骤S42，根据灵敏放大器的能力，设定一个校验子区块的大小为8*P个存储单元，并对各校验子区块进行排序，以校验子区块为单位遍历整个页的地址，分别依序对各个校验子区块进行校验；其中，8*P是用于校验的灵敏放大器的数目；每校验一次，快闪存储器更新数据，进行数据交互——将快闪存储器中的01序列编程信息与各个存储单元的校验情况相结合以产生新的01序列编程信息；之后判断校验是否全部通过——如果校验全部通过，则结束；如果校验没有全部通过，转入步骤S43；步骤S43，进行第一圈编程：即根据漏极泵的能力设定一个编程子区块的大小为8*M个存储单元，并对各编程子区块进行排序，以编程子区块为单位遍历整个页地址，分别依序对各个编程子区块进行编程；之后转入步骤S44；其中，设定每8*M个比特一组，对8*M个存储单元进行编程(M=1、2、......)，每个编程子区块包括8*M个存储单元，漏极泵能带动的电流大小为B，每个存储单元的电流大小是C，则8*M<=B/C，其中M为整数，(M=1、2、……)，根据实验数据找到最优的M值，使尽量多数的存储单元一次编程成功；每次编程后存储单元的情况自动更新到快闪存储器对应本存储单元的地址的数据处；步骤S44，根据灵敏放大器的能力，设定一个校验子区块的大小为8*P个存储单元，并对各校验子区块进行排序，以校验子区块为单位遍历整个页的地址，分别依序对各个校验子区块进行校验；其中，8*P是用于校验的灵敏放大器的数目；每校验一次，快闪存储器更新数据，进行数据交互——将快闪存储器中的01序列编程信息与各个存储单元的校验情况相结合以产生新的01序列编程信息；之后判断校验是否全部通过——如果校验全部通过，则结束；如果校验没有全部通过，转入步骤S45；步骤S45，进行第二圈编程：即根据漏极泵的能力设定一个编程子区块的大小为8*N个存储单元，并对各编程子区块进行排序，以编程子区块为单位遍历整个页地址，分别依序对各个编程子区块进行编程；之后转入步骤S46；其中，设定每8*N个比特一组，对8*N个存储单元进行编程，其中N为整数(N=1、2、……)，每个编程子区块包括8*N个存储单元，N>M；根据实验数据找到最优的N值，以便使第一圈编程后未编程成功的存储单元中的尽量多数存储单元一次编程成功；每次编程后存储单元的情况自动更新到快闪存储器对应本存储单元的地址的数据处；步骤S46，根据灵敏放大器的能力，设定一个校验子区块的大小为8*P个存储单元，并对各校验子区块进行排序，以校验子区块为单位遍历整个页的地址，分别依序对各个校验子区块进行校验；其中，8*P是用于校验的灵敏放大器的数目；每校验一次，快闪存储器更新数据，进行数据交互——将快闪存储器中的01序列编程信息与各个存储单元的校验情况相结合以产生新的01序列编程信息；之后判断校验是否全部通过——如果校验全部通过，则结束；如果校验没有全部通过，转入步骤S47；步骤S47，进行第三圈编程：即重复一次第二圈编程——根据漏极泵的能力设定一个编程子区块的大小为8*N个存储单元，并对各编程子区块进行排序，以编程子区块为单位遍历整个页地址，分别依序对各个编程子区块进行编程；之后转入步骤S48；每次编程后存储单元的情况自动更新到快闪存储器对应本存储单元的地址的数据处；步骤S48，根据灵敏放大器的能力，设定一个校验子区块的大小为8*P个存储单元，并对各校验子区块进行排序，以校验子区块为单位遍历整个页的地址，分别依序对各个校验子区块进行校验；其中，8*P是用于校验的灵敏放大器的数目；每校验一次，快闪存储器更新数据，进行数据交互——将快闪存储器中的01序列编程信息与各个存储单元的校验情况相结合以产生新的01序列编程信 息；之后判断校验是否全部通过——如果校验全部通过，则结束；如果校验没有全部通过，也结束。