[发明专利]非接触式加热的温控器性能测试装置有效
| 申请号： | 201210160515.9 | 申请日： | 2012-05-23 |
| 公开（公告）号： | CN102799168A | 公开（公告）日： | 2012-11-28 |
| 发明（设计）人： | 蔡永华;唐仁幸;张斌 | 申请（专利权）人： | 浙江出入境检验检疫局检验检疫技术中心 |
| 主分类号： | G05B23/02 | 分类号： | G05B23/02 |
| 代理公司： | 杭州杭诚专利事务所有限公司 33109 | 代理人： | 尉伟敏 |
| 地址： | 浙江省杭州*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种非接触式加热的温控器性能测试装置。本发明可以很好地解决现有技术中存在影响试验的准确性的问题。其技术方案要点是，包括进行样品测试加热的温控器加热测试系统、用于给温控器加热测试系统降温的冷却系统、对温控器加热测试系统和冷却系统进行直接控制的下位控制系统、收集测试数据的测试数据系统和上位控制系统，温控器加热测试系统的数据测试端、冷却系统的数据测试端均与测试数据系统电连接，所述测试数据系统的输出端与上位控制系统电连接，所述上位控制系统的输出端与下位控制系统的输入端电连接，所述下位控制系统的输出端分别与所述的温控器加热测试系统和冷却系统的控制端电连接。本发明试验检测更为准确。 | ||
| 搜索关键词： | 接触 加热 温控 性能 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种非接触式加热的温控器性能测试装置，包括进行样品测试加热的温控器加热测试系统、用于给温控器加热测试系统降温的冷却系统、对温控器加热测试系统和冷却系统进行直接控制的下位控制系统、收集测试数据的测试数据系统和上位控制系统，其特征在于：温控器加热测试系统的数据测试端、冷却系统的数据测试端均与测试数据系统电连接，所述测试数据系统的输出端与上位控制系统电连接，所述上位控制系统的输出端与下位控制系统的输入端电连接，所述下位控制系统的输出端分别与所述的温控器加热测试系统和冷却系统的控制端电连接。
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