[发明专利]一种有源相控阵天线结构公差的快速确定方法无效
| 申请号： | 201210162446.5 | 申请日： | 2012-05-23 |
| 公开（公告）号： | CN102708257A | 公开（公告）日： | 2012-10-03 |
| 发明（设计）人： | 王从思;康明魁;段宝岩;王伟;徐慧娟;王猛;黄进;保宏;朱敏波;陈光达 | 申请（专利权）人： | 西安电子科技大学 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 西安吉盛专利代理有限责任公司 61108 | 代理人： | 张培勋 |
| 地址： | 710071 陕西省*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明属于雷达天线技术领域，具体涉及一种有源相控阵天线结构公差的快速确定方法，其步骤是：步骤1，确定天线阵面辐射单元信息；步骤2，获取阵面辐射单元的高度误差；步骤3，获取阵面辐射单元的位置安装误差；步骤4，计算天线口面相位误差；步骤5，计算天线远区电场分布；步骤6，计算天线相关的电性能参数；步骤7，依据战术技术指标要求，判断计算出当前结构公差条件下的天线电性能是否满足要求，若不满足要求，则进行步骤8和步骤9；若满足要求，则直接转到步骤10；当前的辐射单元的位置与高度公差就是所快速确定的天线结构公差。它有效解决在难以快速确定与分配天线结构公差的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 有源 相控阵 天线 结构 公差 快速 确定 方法 | ||
【主权项】：
一种有源相控阵天线结构公差的快速确定方法，其特征是：至少包括如下步骤：步骤1，确定天线阵面辐射单元信息；步骤2，获取阵面辐射单元的高度误差；步骤3，获取阵面辐射单元的位置安装误差；步骤4，计算天线口面相位误差；步骤5，计算天线远区电场分布；步骤6，计算天线相关的电性能参数；步骤7，依据战术技术指标要求，判断计算出当前结构公差条件下的天线电性能是否满足要求，若不满足要求，则进行步骤8和步骤9；若满足要求，则直接转到步骤10；步骤8，修改阵面平面度；步骤9，修改阵面安装精度，并重新进行步骤2至步骤7；步骤10，当前的辐射单元的位置与高度公差就是所快速确定的天线结构公差。
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