[发明专利]半导体晶圆固定方法及半导体晶圆固定装置有效
申请号: | 201210165199.4 | 申请日: | 2012-05-24 |
公开(公告)号: | CN102800614A | 公开(公告)日: | 2012-11-28 |
发明(设计)人: | 山本雅之;奥野长平 | 申请(专利权)人: | 日东电工株式会社 |
主分类号: | H01L21/677 | 分类号: | H01L21/677;H01L21/683 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇;张会华 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供半导体晶圆固定方法及半导体晶圆固定装置。该半导体晶圆固定方法自晶圆收纳用的容器抬起工件将其取出,利用第1识别传感器检测其正面侧,判别工件是晶圆或者隔离物中的哪一个。在工件是晶圆的情况下,也判别其正面是否存在保护带。在正面不存在保护带的情况下,进而利用配备在容器的外周附近的第2识别传感器检测晶圆背面,判别是否存在保护带。 | ||
搜索关键词: | 半导体 固定 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种半导体晶圆固定方法,其将半导体晶圆借助支承用的粘合带固定在环框上,其中,上述半导体晶圆固定方法包括以下过程:在利用输送机构输送重叠收纳在收纳用的容器中的上述半导体晶圆和隔离物的各搬出对象物的过程中,利用第1识别传感器检测该搬出对象物的正面侧的状态,根据检测结果判别搬出对象物;在上述判别的结果是上述搬出对象物为半导体晶圆的情况下,判别上述半导体晶圆正面侧是否存在保护带;在上述半导体晶圆正面侧存在保护带的情况下,利用输送机构将半导体晶圆翻转而使带保护带的面朝下;在上述判别的结果为在半导体晶圆的正面侧不存在保护带的情况下,利用第2识别传感器检测半导体晶圆的背面侧,判别是否存在保护带;在上述判别的结果为带保护带的半导体晶圆的情况下,使带保护带的面保持朝下;利用上述输送机构将带保护带的面朝下的半导体晶圆载置在对准台上,在该对准台上进行对位;利用带粘贴机构在对位后的半导体晶圆的整个背面和环框的整个背面粘贴支承用的粘合带;利用输送机构将通过使半导体晶圆与上述环框成为一体而制成的固定框翻转而将该固定框载置在保持台上,利用剥离机构剥离正面侧的保护带;回收剥离上述保护带后的固定框;在上述第2识别传感器的判别结果为在背面侧不存在保护带的情况下,对上述半导体晶圆的正面侧和背面侧的检测结果进行比较,判别电路面;利用上述输送机构使电路面朝下地将半导体晶圆载置在对准台上,在该对准台上进行对位;利用带粘贴机构在对位后的半导体晶圆的整个背面和环框的整个背面粘贴支承用的粘合带;回收通过使半导体晶圆与上述环框成为一体而制成的固定框;在根据上述第1识别传感器的检测结果搬出对象物是隔离物的情况下,利用上述输送机构将隔离物输送到隔离物回收部。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于日东电工株式会社,未经日东电工株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210165199.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:电机定子通风槽板涂漆装置
- 下一篇:一体式排湿热回收烟叶烤房
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造