[发明专利]用于检测残像的液晶模组检测装置、检测评定系统及方法有效
| 申请号： | 201210168213.6 | 申请日： | 2012-05-25 |
| 公开（公告）号： | CN102682683A | 公开（公告）日： | 2012-09-19 |
| 发明（设计）人： | 张培林;柳在健 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 王莹 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于检测残像的液晶模组检测装置、检测评定系统及方法，涉及液晶模组检测技术领域。该装置包括：密封隔热透明容器，用于容纳待测液晶模组；温度控制模块，用于对所述容器内的温度进行调节；信号发生模块，用于为所述待测液晶模组提供驱动信号。本发明的装置、系统及方法通过对待测液晶模组定制密闭、绝热特性好的透明容器，使用模组自身背光和面板所发出的热量来形成测试所需的温度环境，减小了装置体积，降低了成本；将信号发生模块和温度控制模块集成在容器内，可进一步减小装置体积，使其方便携带，有利于液晶模组检测评定的实时监控。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 液晶 模组 装置 评定 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种用于检测残像的液晶模组检测装置，其特征在于，该装置包括：密封隔热透明容器，用于容纳待测液晶模组；温度控制模块，用于对所述容器内的温度进行调节；信号发生模块，用于为所述待测液晶模组提供驱动信号。
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