[发明专利]一种扫描切片测试数据编码方法及装置

摘要

本发明给出了一种扫描切片测试数据编码方法及装置。所述方法中利用了两个参考切片，所述方法包括：分析当前扫描切片与第一参考切片或者第二参考切片的相容性关系，并根据所述当前扫描切片的相容性关系分析结果生成用于分析下一个扫描切片相容性关系的第一参考切片或第二参考切片；对所述第一参考切片或第二参考切片中的无关位进行回溯赋值；根据所述当前扫描切片的相容性分析结果和所述用于分析下一个扫描切片相容性关系的第一参考切片或第二参考切片对所述扫描切片进行编码。本发明提出包含移位相容的扫描切片编码方案,提高了扫描切片编码效率。

主权项

一种扫描切片测试数据编码方法，所述方法利用了对所述扫描切片进行相容性关系分析的第一参考切片和第二参考切片，其特征在于，所述方法包括步骤：从第一个扫描切片开始，依次分析各当前扫描切片与所述第一参考切片或者第二参考切片的相容性关系，并根据当前扫描切片与所述当前扫描切片的相容性关系分析结果生成用于分析后一个扫描切片相容性关系的第一参考切片和第二参考切片，所述相容性关系分析结果包括与第一参考切片直接相容、与第二参考切片直接相容、与第一参考切片移位相容、与第二参考切片移位相容以及与第一参考切片和第二参考切片都不相容，其中，所述直接相容的类型包括直接相等和直接互补，移位相容的类型包括移位相等和移位互补;从倒数第二个扫描切片开始，依次根据所述当前扫描切片相容性分析结果，以及用于分析后一个扫描切片相容性关系的第一参考切片或第二参考切片，对所述用于分析当前扫描切片相容性关系的第一参考切片或第二参考切片中的无关位进行回溯赋值；根据所述当前扫描切片的相容性分析结果，以及所述用于分析后一个扫描切片相容性关系的第一参考切片或第二参考切片对当前扫描切片进行编码；如果所述当前扫描切片的相容性分析结果为不相容，则当前扫描切片的编码码字由用于表征相容性分析结果的比特以及所述用于分析后一个扫描切片相容性关系的第一参考切片组成；如果所述当前扫描切片的相容性分析结果为与第一/第二参考切片直接相容，则当前扫描切片的编码码字由用于表征其相容性分析结果的比特和用于表征所述直接相容的类型的比特组成；如果所述当前扫描切片的相容性分析结果为与第一/第二参考切片移位相容，则当前扫描切片的编码码字由用于表征其相容性分析结果的比特、用于表征所述移位相容类型的比特，以及所述用于分析后一个扫描切 片相容性关系的第一/第二参考切片的第一位组成。