[发明专利]光学复检系统及其检测方法

摘要

一种光学复检系统及其检测方法，用于辅助检测待测物表面的缺陷，光学复检系统包含工作平台、光源模块、影像提取模块、控制模块及显示模块，光源模块用于发出第一光线照射待测物，待测物反射出第二光线；影像提取模块提取第二光线并产生影像数据；控制模块产生控制信号以控制工作平台、光源模块与影像提取模块的至少其中之一的动作，以改变第二光线；显示模块电连接控制模块以显示影像数据及控制信号。故本发明通过影像提取模块提取动态改变的第二光线而显示于显示模块，以达成辅助作业人员精确判断待测物的表面特性的效果。

主权项

一种光学复检系统，其特征在于，用于辅助检测待测物表面的缺陷，包含：工作平台，具有承载区用以承载该待测物；光源模块，设于该工作平台上方并对应该承载区，该光源模块用于发出第一光线照射该待测物，用以使该第一光线入射该待测物表面而反射出第二光线；影像提取模块，设于该工作平台上方并对应该承载区，该影像提取模块用以提取该第二光线并产生影像数据；控制模块，电连接该光源模块与该影像提取模块，或进一步电连接该工作平台，该控制模块用于产生控制信号以控制该工作平台、该光源模块与该影像提取模块的至少其中之一的动作，以改变该第二光线；以及显示模块，电连接该控制模块，该显示模块用于显示该控制信号及该影像数据。