[发明专利]一种IC芯片自动测试分选机

摘要

本发明公开了一种IC芯片自动测试分选机，包括可将堆积的实料盘逐一分离的上料实托盘分离输入装置，和料船模组装置，包括受控于伺服电机左右摆动的用于放置待测芯片的左料船和用于放置测试后芯片的右料船；用于放置右料船中测试合格芯片的合格品分类收集模组，以及用于放置测试不合格芯片的次品分类收集模组。将待测试和分选的满托盘芯片经过托盘分离输入装置自动输入到位，经上料抓手平台装置逐一转送到料船，测试抓手组合模组装置将左料船上待测芯片准确吸住并移入测试位接受测试，再放回右料船进一步将测试后的芯片送到分类选方位，由下料分选抓手平台装置根据测试结果分类放入相应的成品托盘或者次品托盘中，满盘后再有序送出机外。

主权项

一种IC芯片自动测试分选机，其特征在于，包括：上料实托盘分离输入装置，包括两条托盘传送带，在两条托盘传送带的外侧设有多个通过伸缩将托盘托住或松开、受控于第一气缸的伸缩托块，在两条托盘传送带之间设有受控于第二气缸并可将托盘托起使其高于托盘传送带水平端面的托板，所述托板具有一个低于托盘传送带水平端面的位置，满载芯片的托盘分离后被传送到位；用于放置到位托盘中的芯片的料船模组装置，包括受控于伺服电机左右摆动的用于放置待测芯片的左料船和用于放置测试后芯片的右料船；用于将左料船中的待测芯片抓起放入测试机中测试的测试抓手组合模组装置，包括至少一个测试抓手组合运动模组，所述测试抓手组合运动模组包括安装板，还包括测试抓手总成组合升降滑块、测试抓手总成组合左右移动滑块，所述安装板的上方设有可将测试抓手总成组合升降滑块上下移动的垂直移动装置；所述安装板的下方设有将测试抓手总成组合左右移动滑块水平移动的水平移动装置；还设有下端固联有测试抓手总成装置的测试抓手总成组合连接板，所述测试抓手总成组合连接板垂直导轨式地卡合与测试抓手总成组合左右移动滑块，其上端水平导轨式地卡合与测试抓手总成组合升降滑块；用于放置右料船中测试合格芯片的合格品分类收集模组，以及用于放置测试不合格芯片的次品分类收集模组。