[发明专利]一种宽光谱半导体超辐射发光二极管的制作方法有效

专利信息
申请号: 201210176000.8 申请日: 2012-05-31
公开(公告)号: CN102683519A 公开(公告)日: 2012-09-19
发明(设计)人: 赵建宜;黄晓东;刘文 申请(专利权)人: 武汉光迅科技股份有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00;H01L33/46
代理公司: 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 代理人: 张火春
地址: 430205 湖北省*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种宽光谱半导体超辐射发光二极管的制作方法,其制作步骤为:步骤1:在衬底上依次外延生长缓冲层、下限制层、多量子阱有源层、上限制层、波导层、欧姆接触层、牺牲层;步骤2:采用掩膜方法在牺牲层上制作掩膜,所述掩膜的占空比随位置变化,且占空比同预期的带隙偏移量相对应;步骤3:采入缺陷引入方法处理暴露的牺牲层,然后高温退火处理;步骤4:去除残余的掩膜及牺牲层,光刻并刻蚀波导层和欧姆接触层,形成脊型波导结构,制作电极,完成器件的芯片结构制作;步骤5:解离芯片成管芯,在管芯出光的端面镀膜,形成宽光谱半导体超辐射发光二极管;本发明方法工艺简单,无需特殊的外延生长技术或多次光刻沉积过程,成本低廉。
搜索关键词: 一种 光谱 半导体 辐射 发光二极管 制作方法
【主权项】:
一种宽光谱半导体超辐射发光二极管的制作方法,其特征在于:其制作步骤具体如下:步骤1:制作外延片:在衬底(1)上依次外延生长缓冲层(2)、下限制层(3)、多量子阱有源层(4)、上限制层(5)、波导层(6)、欧姆接触层(7)、牺牲层(8);步骤2:采用掩膜方法在牺牲层(8)上制作掩膜(9),所述掩膜(9)的占空比随位置变化,且占空比同预期的带隙偏移量相对应;步骤3:采入缺陷引入方法处理暴露的牺牲层(8),然后高温退火处理;步骤4:去除残余的掩膜(9)及牺牲层(8),沿(011)晶向光刻并刻蚀波导层(6)和欧姆接触层(7),形成脊型波导结构,制作电极(10),完成器件的芯片结构制作;步骤5:解离芯片成管芯,在管芯出光的两个端面镀膜,一端镀高反射膜,另一端镀增透膜,形成宽光谱半导体超辐射发光二极管。
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