[发明专利]薄膜晶体管、用于制造该薄膜晶体管的方法、以及显示设备有效

专利信息
申请号: 201210177380.7 申请日: 2012-05-31
公开(公告)号: CN103022143A 公开(公告)日: 2013-04-03
发明(设计)人: 中野慎太郎;上田知正;三浦健太郎;齐藤信美;坂野龙则;山口一 申请(专利权)人: 株式会社东芝
主分类号: H01L29/786 分类号: H01L29/786;H01L21/336
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 钱孟清
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供了薄膜晶体管、用于制造该薄膜晶体管的方法、以及显示设备。根据一个实施例,薄膜晶体管包括衬底、栅电极、第一绝缘膜、氧化物半导体膜、第二绝缘膜、源电极、以及漏电极。栅电极设置在衬底的一部分上。第一绝缘膜覆盖栅电极。氧化物半导体膜经由第一绝缘膜设置在栅电极上。第二绝缘膜设置在氧化物半导体膜的一部分上。源电极和漏电极分别连接到未用第二绝缘膜覆盖的氧化物半导体膜的第一和第二部分。氧化物半导体膜包括氧化物半导体。第一和第二绝缘膜中的含氢浓度分别不小于5×1020原子/cm-3,并且不大于1019原子/cm-3。
搜索关键词: 薄膜晶体管 用于 制造 方法 以及 显示 设备
【主权项】:
一种薄膜晶体管,包括:衬底;设置在所述衬底的一部分上的栅电极;覆盖所述栅电极的第一绝缘膜;经由所述第一绝缘膜设置在所述栅电极上的氧化物半导体膜;设置在所述氧化物半导体膜的一部分上的第二绝缘膜;以及源电极和漏电极,所述源电极连接到所述氧化物半导体膜的第一部分,所述第一部分未用所述第二绝缘膜覆盖,所述漏电极连接到所述氧化物半导体膜的第二部分,所述第二部分未用所述第二绝缘膜覆盖,所述氧化物半导体膜包括含有铟、镓和锌中的至少一种元素的氧化物半导体,以及所述第一绝缘膜中的含氢浓度不小于5×1020原子/cm‑3,而所述第二绝缘膜中的含氢浓度不大于1019原子/cm‑3。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社东芝,未经株式会社东芝许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210177380.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top