[发明专利]用于光刻设备的工件台位置误差补偿方法有效

专利信息
申请号: 201210181489.8 申请日: 2012-06-05
公开(公告)号: CN103454862A 公开(公告)日: 2013-12-18
发明(设计)人: 林彬;李煜芝;毛方林 申请(专利权)人: 上海微电子装备有限公司
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20
代理公司: 北京连和连知识产权代理有限公司 11278 代理人: 王光辉
地址: 201203 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开一种用于光刻设备的工件台位置误差补偿方法,其特征在于,包括:步骤一、设置旋转台的旋转角度为零,并与水平向运动台保持固定的位置关系,在硅片上套刻曝光,读取曝光标记偏差,计算各曝光场的旋转角度;步骤二、根据所述各曝光场的旋转角度,拟合由所述运动轨道扭转引入的旋转角度;步骤三、使所述工件台先后沿第一方向和与第一方向垂直的第二方向运动,测量工件台的旋转角度;步骤四、根据所述工件台的旋转角度,拟合获得由缩放效应引入的旋转角度;步骤五、根据所述工件台的旋转角度、所述运动轨道扭转引入的旋转角度与缩放效应引起的旋转角度,计算方镜面形引起的旋转角度,获得一补偿后的方镜形貌。
搜索关键词: 用于 光刻 设备 工件 位置 误差 补偿 方法
【主权项】:
一种用于光刻设备的工件台位置误差补偿方法,其特征在于,包括:步骤一、设置旋转台的旋转角度为零,并与水平向运动台保持固定的位置关系,水平向运动台沿着运动轨道运动,在硅片上套刻曝光,读取曝光标记偏差,计算各曝光场的旋转角度;步骤二、根据所述各曝光场的旋转角度,拟合由所述运动轨道扭转引入的旋转角度;步骤三、使所述工件台先后沿第一方向和与第一方向垂直的第二方向运动,测量工件台的旋转角度;步骤四、根据所述工件台的旋转角度,拟合获得由缩放效应引入的旋转角度; 步骤五、根据所述工件台的旋转角度、所述运动轨道扭转引入的旋转角度与缩放效应引起的旋转角度,计算方镜面形引起的旋转角度,从而对工件台位置误差进行补偿。
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