[发明专利]用于光刻设备的工件台位置误差补偿方法有效
申请号: | 201210181489.8 | 申请日: | 2012-06-05 |
公开(公告)号: | CN103454862A | 公开(公告)日: | 2013-12-18 |
发明(设计)人: | 林彬;李煜芝;毛方林 | 申请(专利权)人: | 上海微电子装备有限公司 |
主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20 |
代理公司: | 北京连和连知识产权代理有限公司 11278 | 代理人: | 王光辉 |
地址: | 201203 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开一种用于光刻设备的工件台位置误差补偿方法,其特征在于,包括:步骤一、设置旋转台的旋转角度为零,并与水平向运动台保持固定的位置关系,在硅片上套刻曝光,读取曝光标记偏差,计算各曝光场的旋转角度;步骤二、根据所述各曝光场的旋转角度,拟合由所述运动轨道扭转引入的旋转角度;步骤三、使所述工件台先后沿第一方向和与第一方向垂直的第二方向运动,测量工件台的旋转角度;步骤四、根据所述工件台的旋转角度,拟合获得由缩放效应引入的旋转角度;步骤五、根据所述工件台的旋转角度、所述运动轨道扭转引入的旋转角度与缩放效应引起的旋转角度,计算方镜面形引起的旋转角度,获得一补偿后的方镜形貌。 | ||
搜索关键词: | 用于 光刻 设备 工件 位置 误差 补偿 方法 | ||
【主权项】:
一种用于光刻设备的工件台位置误差补偿方法,其特征在于,包括:步骤一、设置旋转台的旋转角度为零,并与水平向运动台保持固定的位置关系,水平向运动台沿着运动轨道运动,在硅片上套刻曝光,读取曝光标记偏差,计算各曝光场的旋转角度;步骤二、根据所述各曝光场的旋转角度,拟合由所述运动轨道扭转引入的旋转角度;步骤三、使所述工件台先后沿第一方向和与第一方向垂直的第二方向运动,测量工件台的旋转角度;步骤四、根据所述工件台的旋转角度,拟合获得由缩放效应引入的旋转角度; 步骤五、根据所述工件台的旋转角度、所述运动轨道扭转引入的旋转角度与缩放效应引起的旋转角度,计算方镜面形引起的旋转角度,从而对工件台位置误差进行补偿。
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