[发明专利]X射线残余应力测试系统校准试块制作方法有效
| 申请号： | 201210183436.X | 申请日： | 2012-06-06 |
| 公开（公告）号： | CN102706708A | 公开（公告）日： | 2012-10-03 |
| 发明（设计）人： | 袁新艳;王海玲;李炎琢 | 申请（专利权）人： | 沈阳飞机工业（集团）有限公司 |
| 主分类号： | G01N1/28 | 分类号： | G01N1/28 |
| 代理公司： | 沈阳杰克知识产权代理有限公司 21207 | 代理人： | 杨华 |
| 地址： | 110034 *** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： |
本发明涉及一种X射线残余应力测试系统校准试块制作方法，包括以下步骤：1）采用颗粒直径为1 |
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| 搜索关键词： | 射线 残余 应力 测试 系统 校准 制作方法 | ||
【主权项】：
1.一种X射线残余应力测试系统校准试块制作方法，其特征在于包括以下步骤：1）采用颗粒直径为1![]()
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的无应力铁粉，在真空中对其退火处理；2）用丙酮将氮纤维素胶合剂稀释为10%的溶液作为粘合剂溶液；3）将退火后的无应力铁粉撒在显微镜载玻片上，然后在上面均匀滴上粘合剂溶液；4）再在粘合剂溶液上撒上退火后的无应力铁粉，并用另一个显微镜载玻片扣合；5）上表面平整后，拿下上面的显微镜载玻片，继续重复3和4步骤，直至试块的厚度为15cm，并且表面平整，将试块晒干即得到X射线残余应力测试系统校准试块。
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