[发明专利]一种激光探测系统会聚光斑质量测试方法

摘要

本发明属于激光制导类和激光引信类产品激光探测系统检测领域，具体涉及一种激光探测系统用会聚光斑质量测试方法。该方法的目的是实现激光探测系统用近红外光学镜头会聚光斑质量的精密测量。该方法包括光斑形状对称性的测量步骤、光斑尺寸的测量步骤、光斑能量分布的测量步骤的单一测量、两两或全部组合测量。通过对光斑形状对称性、光斑尺寸、光斑能量分布情况的测量实现了对激光探测系统光学镜头会聚光斑质量的精密测量，其测角精度一致性好且提高了测角线性度。

主权项

一种激光探测系统会聚光斑质量测试方法，包括光斑形状对称性测量，将光斑分为四个象限，并分别将四个象限的光信号转换为电信号，光斑形状对称性计算如下 η = 1 - max { ( S 1 - S 2 ) , ( S 1 - S 3 ) , ( S 1 - S 4 ) , ( S 2 - S 3 ) , ( S 2 - S 4 ) , ( S 3 - S 4 ) } ( S 1 + S 2 + S 3 + S 4 ) 式中，S1、S2、S3和S4分别为四个象限输出的电压值。