[发明专利]光强分布的测量方法有效
| 申请号： | 201210192083.X | 申请日： | 2012-06-12 |
| 公开（公告）号： | CN103487139A | 公开（公告）日： | 2014-01-01 |
| 发明（设计）人： | 朱钧;朱景雷;姜开利;冯辰;魏继卿;金国藩;范守善 | 申请（专利权）人： | 清华大学;鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G01J1/04 | 分类号： | G01J1/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100084 北京市海淀区清*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种光强分布的测量方法，包括以下步骤：提供一设置于基底一表面的碳纳米管阵列，并将该设置于基底的碳纳米管阵列放置于一惰性环境或真空环境中，所述碳纳米管阵列具有一远离基底的第一表面；用一待测光源照射所述碳纳米管阵列的第一表面，使该碳纳米管阵列辐射出可见光；提供一反射镜，使该碳纳米管阵列所辐射的可见光经该反射镜反射；以及利用一成像元件对反射镜所反射的可见光成像，并读出待测光源的光强分布。 | ||
| 搜索关键词： | 分布 测量方法 | ||
【主权项】：
一种光强分布的测量方法，包括以下步骤：提供一设置于基底一表面的碳纳米管阵列，并将该设置于基底的碳纳米管阵列放置于一惰性环境或真空环境中，所述碳纳米管阵列具有一远离基底的第一表面；用一待测光源照射所述碳纳米管阵列的第一表面，使该碳纳米管阵列辐射出可见光；提供一反射镜，使该碳纳米管阵列所辐射的可见光经该反射镜反射；以及利用一成像元件对反射镜所反射的可见光成像，并读出待测光源的光强分布。
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