[发明专利]光强分布的检测系统有效
| 申请号： | 201210192085.9 | 申请日： | 2012-06-12 |
| 公开（公告）号： | CN103487143A | 公开（公告）日： | 2014-01-01 |
| 发明（设计）人： | 姜开利;朱钧;冯辰;范守善 | 申请（专利权）人： | 清华大学;鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G01J1/58 | 分类号： | G01J1/58 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100084 北京市海淀区清*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种光强分布的检测系统，包括一碳纳米管阵列和一成像元件，该碳纳米管阵列具有一第一表面及一与该第一表面相对设置的第二表面，所述碳纳米管阵列放置于一惰性环境或真空环境中；所述成像元件与碳纳米管阵列的第二表面间隔设置。 | ||
| 搜索关键词： | 分布 检测 系统 | ||
【主权项】：
一种光强分布的检测系统，包括：一碳纳米管阵列，该碳纳米管阵列具有一第一表面及一与该第一表面相对设置的第二表面，所述碳纳米管阵列放置于一惰性环境或真空环境中，所述碳纳米管阵列用于吸收一待测光源所发出光并辐射出可见光；以及一成像元件，所述成像元件与碳纳米管阵列的第二表面间隔设置，所述成像元件用于对碳纳米管阵列所辐射的可见光成像。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于清华大学;鸿富锦精密工业（深圳）有限公司，未经清华大学;鸿富锦精密工业（深圳）有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201210192085.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
