[发明专利]化合物半导体组件晶圆整合结构有效
申请号: | 201210195093.9 | 申请日: | 2012-06-13 |
公开(公告)号: | CN103489859A | 公开(公告)日: | 2014-01-01 |
发明(设计)人: | 林正国;李思儒;许荣豪;蔡绪孝 | 申请(专利权)人: | 稳懋半导体股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/02 | 分类号: | H01L27/02;H01L27/06 |
代理公司: | 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 | 代理人: | 孙皓晨 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明关于一种化合物半导体组件晶圆整合结构,由下至上依序包括一基板、一第一磊晶层、一蚀刻终止层、一第二磊晶层、一次集极层、一集极层、一基极层以及一射极层,其中该第一磊晶层为一p型掺杂层,该第二磊晶层为一n型渐变掺杂层,其掺杂浓度从下到上为递减或递增,而该次集极层为一n型掺杂层;此晶圆整合结构可用以形成一异质接面双极晶体管(HBT)、一变容二极管(Varactor)或一半导体场效晶体管(MESFET)。 | ||
搜索关键词: | 化合物 半导体 组件 圆整 结构 | ||
【主权项】:
一种化合物半导体组件晶圆整合结构,依序包括:一基板;一第一磊晶层,位于该基板之上,为一p型掺杂层;一蚀刻终止层,位于该第一磊晶层之上,为一n型掺杂层;一第二磊晶层,位于该蚀刻终止层之上,为一n型渐变掺杂层,其掺杂浓度从下到上为递减或递增;一次集极层,位于该第二磊晶层之上,为一n型掺杂层;一集极层,位于该次集极层之上,为一n型掺杂层;一基极层,位于该集极层之上,为一p型掺杂层;以及一射极层,位于该基极层之上,为一n型掺杂层。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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