[发明专利]化合物半导体组件晶圆整合结构有效

专利信息
申请号: 201210195093.9 申请日: 2012-06-13
公开(公告)号: CN103489859A 公开(公告)日: 2014-01-01
发明(设计)人: 林正国;李思儒;许荣豪;蔡绪孝 申请(专利权)人: 稳懋半导体股份有限公司
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02;H01L27/06
代理公司: 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 代理人: 孙皓晨
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明关于一种化合物半导体组件晶圆整合结构,由下至上依序包括一基板、一第一磊晶层、一蚀刻终止层、一第二磊晶层、一次集极层、一集极层、一基极层以及一射极层,其中该第一磊晶层为一p型掺杂层,该第二磊晶层为一n型渐变掺杂层,其掺杂浓度从下到上为递减或递增,而该次集极层为一n型掺杂层;此晶圆整合结构可用以形成一异质接面双极晶体管(HBT)、一变容二极管(Varactor)或一半导体场效晶体管(MESFET)。
搜索关键词: 化合物 半导体 组件 圆整 结构
【主权项】:
一种化合物半导体组件晶圆整合结构,依序包括:一基板;一第一磊晶层,位于该基板之上,为一p型掺杂层;一蚀刻终止层,位于该第一磊晶层之上,为一n型掺杂层;一第二磊晶层,位于该蚀刻终止层之上,为一n型渐变掺杂层,其掺杂浓度从下到上为递减或递增;一次集极层,位于该第二磊晶层之上,为一n型掺杂层;一集极层,位于该次集极层之上,为一n型掺杂层;一基极层,位于该集极层之上,为一p型掺杂层;以及一射极层,位于该基极层之上,为一n型掺杂层。
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