[发明专利]线性位置测量系统和确定车厢沿着导轨的绝对位置的方法有效

专利信息
申请号: 201210195618.9 申请日: 2012-06-08
公开(公告)号: CN102818511A 公开(公告)日: 2012-12-12
发明(设计)人: 斯蒂芬·弗雷;克劳斯-迪特尔·戈茨 申请(专利权)人: 施内贝格尔控股公司
主分类号: G01B7/00 分类号: G01B7/00;G01B11/00
代理公司: 北京三幸商标专利事务所 11216 代理人: 刘激扬
地址: 瑞士罗*** 国省代码: 瑞士;CH
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摘要: 发明涉及一种线性位置测量系统和用于确定车厢沿着导轨(12)的绝对位置的方法。在此响应于第一阈值(SW1)和第二阈值(SW2)而对基于至少一个参考点的模拟信号级数(S)离散地进行扫描。所得的数字值被存储到第一测量值寄存器(MR1)和第二测量值寄存器(MR2)中。将第一和第二测量值寄存器(MR1、MR2)的内容与第一和第二设置测量值寄存器中的各自内容进行比较。如果差值在预定的容差范围之内,则参考点被输出为理想的参考点,否则丢弃。
搜索关键词: 线性 位置 测量 系统 确定 车厢 沿着 导轨 绝对 方法
【主权项】:
一种线性位置测量系统(10),用于确定车厢沿着导轨(12)的绝对位置,该系统具有沿着导轨(12)设置的参考标尺(16)和固定在轨道车厢上的扫描仪,其中所述扫描仪被设计用于沿着所述参考标尺(16)扫描参考点(20),其中所述参考点(20)能够被扫描为必要的模拟信号级数(S),该模拟信号级数(S)包括连续的第一和第二信号半波级数(S1、S2),其特征在于所述线性位置测量系统(10)还包括:a)至少一个阈值存储装置,用于存储第一和第二阈值(SW1、SW1),它们的水平能够相对于彼此而变化地校正,b)第一比较器,用于将第一信号半波级数(S1)的扫描值与在第一信号半波级数(S1)的分段间隔中的第一阈值(SW1)进行比较,并且:将那些比第一阈值(SW1)小的第一信号半波级数(S1)的扫描值输出到第一测量值寄存器(MR1)中,用于将那些值存储为第一离散SW1半波字节值,及将那些比第一阈值(SW1)大的第一信号半波级数(S1)的扫描值输出到第一测量值寄存器(MR1)中,用于将那些值存储为第二离散SW1半波字节值,c)第二比较器,用于将第二信号半波级数(S2)的扫描值与在第二信号半波级数(S2)中的第二阈值(SW2)进行比较,并且:将那些比第二阈值(SW2)小的第二信号半波级数(S2)的扫描值输出到第二测量值寄存器(MR2)中,用于将那些值存储为第一离散SW2半波字节值,及将那些比第二阈值(SW2)大的第二信号半波级数(S2)的扫描值输出到第二测量值寄存器(MR2)中,用于将那些值存储为第二离散 SW2半波字节值,d)第一设置测量值寄存器(MRsoll1),用于存储第一信号半波级数(S1)的分段间隔中的值的设置测量值,和第二设置测量值寄存器(MRsoll2),用于存储第二信号半波级数(S2)的分段间隔中的值的设置测量值,其中所述测量值寄存器(MR1、MR2)和设置测量值寄存器(MRsoll1、MRsoll2)显示相同的字节长度,e)至少一个逻辑比较模块,用于将第一和第二测量值寄存器(MR1、MR2)的各自内容与第一和第二设置测量值寄存器(MRsoll1、MRsoll2)的内容进行比较,并根据这个比较输出差值,以及f)容差范围比较器,用于将所述差值与预定的容差范围进行比较,并基于这个比较,如果所述差值在预定的容差范围之内,则获得并输出每个参考点(20)作为理想的参考点。
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