[发明专利]纳米粒径分析仪用于内毒素检测的方法有效
申请号: | 201210196656.6 | 申请日: | 2012-06-14 |
公开(公告)号: | CN102692494A | 公开(公告)日: | 2012-09-26 |
发明(设计)人: | 彭国平;郑云枫;李红阳 | 申请(专利权)人: | 南京中医药大学 |
主分类号: | G01N33/483 | 分类号: | G01N33/483 |
代理公司: | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人: | 许方 |
地址: | 210046 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种纳米粒径分析仪用于内毒素检测的方法,属于细菌内毒素检测领域。该方法依据内毒素在水溶液中可团聚成纳米胶粒的特征,先制备至少三个稀释浓度的系列内毒素标准溶液,采用纳米粒径分析仪对这些标准溶液进行粒径检测,然后对检测所得的粒径数据与相应标准溶液的浓度作回归分析,建立出标准曲线,最后根据该标准曲线以及待测样品中的内毒素粒径计算出样品的内毒素含量。本发明检测速度快,不消耗检测试剂,检测成本低,可靠性高。 | ||
搜索关键词: | 纳米 粒径 分析 用于 内毒素 检测 方法 | ||
【主权项】:
一种纳米粒径分析仪用于内毒素检测的方法,其特征在于:该方法包括如下步骤:步骤1:制备系列浓度的内毒素标准溶液,采用纳米粒径分析仪对这些内毒素标准溶液进行粒径检测;步骤2:对检测所得的粒径数据与相应内毒素标准溶液的浓度作回归分析,建立标准曲线ln(d)=k·C+b,式中:d为粒径,C为内毒素浓度,k为校正系数,b为修正系数;步骤3:根据标准曲线计算出待测样品中的内毒素含量。
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