[发明专利]热继电器双金属片检测装置在审
| 申请号： | 201210197894.9 | 申请日： | 2012-06-15 |
| 公开（公告）号： | CN103512517A | 公开（公告）日： | 2014-01-15 |
| 发明（设计）人： | 沈皓然 | 申请（专利权）人： | 苏州工业园区高登威科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B21/00 | 分类号： | G01B21/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215121 江苏省苏州市工业*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供一种热继电器双金属片检测装置，用于检测热继电器双金属片的位置状态，热继电器包括由若干侧壁定义的腔体，以及位于腔体中的电流触头，热继电器双金属片检测装置包括：探针，其用于与热继电器双金属片配合；位移传感器，其与探针电性连接，其通过探针检测热继电器双金属片的位置状态；显示装置，其与所述位移传感器电性连接，用于显示表征热继电器双金属片位置状态的计量值；拨杆，用于与热继电器中电流触头相配合，该拨杆位置可调。本发明热继电器双金属片检测装置通过设置位置可调的拨杆，以模拟不同电流强度的检测环境，保证检测环境的多样性，使检测结果更加准确。 | ||
| 搜索关键词： | 继电器 双金属 检测 装置 | ||
【主权项】：
一种热继电器双金属片检测装置，用于检测热继电器双金属片的位置状态，所述热继电器包括由若干侧壁定义的腔体，以及位于腔体中的电流触头，其特征在于，所述热继电器双金属片检测装置包括：探针，所述探针用于与热继电器双金属片配合；位移传感器，所述位移传感器与所述探针电性连接，所述位移传感器通过所述探针检测热继电器双金属片的位置状态；显示装置，所述显示装置与所述位移传感器电性连接，用于显示表征所述热继电器双金属片位置状态的计量值；拨杆，所述拨杆用于与热继电器中电流触头相配合，所述拨杆位置可调。
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