[发明专利]热继电器双金属片检测装置无效
| 申请号： | 201210197921.2 | 申请日： | 2012-06-15 |
| 公开（公告）号： | CN103512518A | 公开（公告）日： | 2014-01-15 |
| 发明（设计）人： | 沈皓然 | 申请（专利权）人： | 苏州工业园区高登威科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B21/00 | 分类号： | G01B21/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215121 江苏省苏州市工业*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供一种热继电器双金属片检测装置，用于检测热继电器双金属片的位置状态，其包括：探针，用于与热继电器双金属片配合；位移传感器，其与探针电性连接，该位移传感器通过探针检测所述热继电器双金属片的位置状态；显示装置，与位移传感器电性连接，用于显示表征热继电器双金属片位置状态的计量值。本发明的热继电器双金属片检测装置通过设置互相配合的探针、位移传感器、以及显示装置，可以实时地将热继电器双金属片的位置状态清楚地表征显示出来，方便技术人员及时的调节，保证产品质量。 | ||
| 搜索关键词： | 继电器 双金属 检测 装置 | ||
【主权项】：
一种热继电器双金属片检测装置，用于检测热继电器双金属片的位置状态，其特征在于，所述装置包括：探针，所述探针用于与所述热继电器双金属片配合；位移传感器，所述位移传感器与所述探针电性连接，所述位移传感器通过所述探针检测所述热继电器双金属片的位置状态；显示装置，所述显示装置与所述位移传感器电性连接，用于显示表征所述热继电器双金属片位置状态的计量值。
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