[发明专利]一种冶金杂料快速光谱分析的方法

摘要

本发明涉及一种冶金杂料光谱分析方法。主要解决现有冶金杂料的荧光光谱分析方法存在的一条工作曲线只针对一种物料的技术问题。技术方案为：一种冶金杂料快速光谱分析的方法，样品的制备方法包括以下步骤：a、样品在高温炉中进行灼烧处理，算出灼烧减、增量；b、样品处理；c、添加碘化铵为脱模剂，制备成标准玻璃片；工作曲线的绘制包括以下步骤：a、以纯物质或者基准物质按照样品制备方式制备成待测元素的标准样片；b、按照样品制备方法制备2只纯混合熔剂的空白片；c、将主量元素减少称样量即可获得不同含量的标准片；d、将制备好的标准物质片进行荧光扫描，以浓度为横坐标、荧光强度为纵坐标进行回归、统计，可获得各元素的回归曲线；e、将空白片同理进行光谱扫描，作为标准空白进行扣除；f、未知样品测试；g、将未知样品的灼烧减、增量带入计算，并将总量归一化。

主权项

一种冶金杂料快速光谱分析的方法，其特征是所述的方法包括样品的制备方法、工作曲线的绘制，样品的制备方法包括以下步骤：a、样品在高温炉中进行灼烧处理，算出灼烧减、增量；b、以四硼酸锂+碳酸锂混合熔剂衬底，称取样品置于铂金坩埚内，加入硝酸铵充分混匀，并在混匀后的样品表面均匀覆盖层四硼酸锂+碳酸锂混合熔剂；c、添加碘化铵为脱模剂，在高温炉中进行低温预氧化后转入高温中熔融，制备成标准玻璃片；工作曲线的绘制包括以下步骤：a、以纯物质或者基准物质按照样品制备方式制备成待测元素的标准样片；b、按照样品制备方法制备2只纯混合熔剂的空白片，以消除熔剂干扰；c、将主量元素减少称样量即可获得不同含量的标准片；d、将制备好的标准物质片进行荧光扫描，以浓度为横坐标、荧光强度为纵坐标进行回归、统计，可获得各元素的回归曲线；e、将空白片同理进行光谱扫描，作为标准空白进行扣除；f、未知样品测试：利用X射线对未知样品进行扫描，获得样品中成分的荧光强度，将获得的强度在上述回归曲线中进行计算，即可算出各元素的含量；g、为了保证计算的准确性，将未知样品的灼烧减、增量带入计算，并将总量归一化。