[发明专利]直拉多或单晶硅制备工艺无效
申请号: | 201210204933.3 | 申请日: | 2012-06-20 |
公开(公告)号: | CN102758253A | 公开(公告)日: | 2012-10-31 |
发明(设计)人: | 林游辉 | 申请(专利权)人: | 合肥景坤新能源有限公司 |
主分类号: | C30B29/06 | 分类号: | C30B29/06;C30B15/00;C30B28/10 |
代理公司: | 安徽合肥华信知识产权代理有限公司 34112 | 代理人: | 方峥 |
地址: | 231600 安徽省*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本发明公开了一种直拉多或单晶硅制备工艺,包括有以下操作步骤:a)加料:将多晶硅或单晶硅原料及杂质放入石英坩埚内,杂质的种类依电阻的N或P型而定,杂质种类有硼、磷、氮;b)融化:加完多晶硅或单晶硅原料于石英坩埚内后,长晶炉必须关闭并抽成真空后充入高纯氮气,氮气的纯度为98%以上,氮气压力为0.06-0.2MPa,氮气流量80-100L/min,然后打开石墨加热器电源,加热至熔化温度1420℃以上,将多晶硅或单晶硅原料熔化;c)缩颈生长:当硅熔体的温度稳定之后,将籽晶慢慢浸入硅熔体中,将籽晶快速向上提升,使长出的籽晶的直径缩小到4-6mm。本发明用氮气流取代现有氩气流,大大抑制了硅中的微缺陷,增强了硅材料的机械强度,使出片率大大提高,并且破片率低,从而降低单晶硅的生产成本,同时少子寿命有明显提高。 | ||
搜索关键词: | 直拉多 单晶硅 制备 工艺 | ||
【主权项】:
直拉多或单晶硅制备工艺,其特征在于,包括有以下操作步骤:a)、加料:将多晶硅或单晶硅原料及杂质放入石英坩埚内,杂质的种类依电阻的N或P型而定,杂质种类有硼、磷、氮;b)、融化:加完多晶硅或单晶硅原料于石英坩埚内后,长晶炉必须关闭并抽成真空后充入高纯氮气,氮气的纯度为98%以上,氮气压力为0.06‑0.2MPa, 氮气流量80‑100L/min,然后打开石墨加热器电源,加热至熔化温度1420℃以上,将多晶硅或单晶硅原料熔化;c)、缩颈生长:当硅熔体的温度稳定之后,将籽晶慢慢浸入硅熔体中,将籽晶快速向上提升,使长出的籽晶的直径缩小到4‑6mm;d)、放肩生长:长完细颈之后,须降低温度与拉速,使得晶体的直径渐渐增大到所需的大小;e)、等径生长:长完细颈和肩部之后,借着拉速与温度的不断调整,可使晶棒直径维持在正负2mm之间,这段直径固定的部分即称为等径部分,单晶硅片取自于等径部分;f)、尾部生长:在长完等径部分之后,必须先将晶棒的直径慢慢缩小,直到成一尖点而与液面分开,长完的晶棒被升至上炉室冷却一段时间后取出,即完成一次生长周期。
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