[发明专利]液晶面板的检验方法及设备有效
| 申请号： | 201210212458.4 | 申请日： | 2012-06-21 |
| 公开（公告）号： | CN102736282A | 公开（公告）日： | 2012-10-17 |
| 发明（设计）人： | 张培林;柳在健 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 黄灿;吕品 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供的液晶面板的检验方法及检验设备，其中检验方法包括：测试液晶面板的公共电极均匀性；根据液晶面板的公共电极均匀性结果判定液晶面板的残像发生几率。本发明的液晶面板的检验设备，包括：用于测试液晶面板的公共电极均匀性的测试装置；根据液晶面板的公共电极均匀性结果判定液晶面板的残像发生几率的判断装置。本发明的液晶面板的检验方法及检验设备，通过测试液晶面板内部公共电极的均匀性可以准确判断液晶面板残像发生的概率和等级，从而不必进行残像评价就可以快捷的判断液晶面板的残像情况，节省了时间，提高了工作效率。 | ||
| 搜索关键词： | 液晶面板 检验 方法 设备 | ||
【主权项】：
一种液晶面板的检验方法，其特征在于，包括：测试液晶面板的公共电极均匀性；根据所述液晶面板的公共电极均匀性结果判定所述液晶面板的残像发生几率。
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