[发明专利]晶片加工方法有效
申请号: | 201210214937.X | 申请日: | 2012-06-26 |
公开(公告)号: | CN103177943B | 公开(公告)日: | 2017-05-17 |
发明(设计)人: | 关家一马 | 申请(专利权)人: | 株式会社迪思科 |
主分类号: | H01L21/268 | 分类号: | H01L21/268;H01L33/00 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司11127 | 代理人: | 党晓林,王小东 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供一种晶片加工方法,在晶片内部形成变质层的情况下,防止在搬运时晶片以变质层为起点断裂,并且在晶片背面形成反射膜的情况下也能够利用激光工序的照射在晶片内部形成变质层。该晶片加工方法至少包括变质层形成工序,对于具有形成有多个器件的器件区域及围绕器件区域的外周剩余区域的晶片(W),以波长相对于晶片(W)具有透过性的激光光线在其内部沿分割预定线聚光并形成作为分割起点的变质层(32);和搬运工序,将该晶片(W)搬运到下一工序,在变质层形成工序中,在晶片(W)的外周剩余区域未形成有变质层(32)而是形成外周加强部(W3),使得在搬运工序中晶片(W)不会以变质层(32)为起点发生断裂。 | ||
搜索关键词: | 晶片 加工 方法 | ||
【主权项】:
一种晶片加工方法,所述晶片在表面具有器件区域及围绕所述器件区域的外周剩余区域,所述器件区域在由多条分割预定线划分出的各区域分别形成有器件,所述晶片加工方法的特征在于,所述晶片加工方法至少包括下述工序:变质层形成工序,在该变质层形成工序中,以保持构件保持晶片的表面侧,将波长相对于所述晶片具有透过性的激光光线的聚光点定位在分割预定线的内部并从所述晶片的背面侧进行照射,沿分割预定线形成作为分割的起点的变质层;以及搬运工序,在该搬运工序中,将晶片从所述保持构件搬出,并将所述晶片搬运到下一工序,在所述变质层形成工序中,在晶片的外周剩余区域残留外周加强部而不形成变质层,在所述变质层形成工序中,以不到达所述器件区域的周缘部的方式形成所述变质层,由此在从所述外周剩余区域到所述器件区域的范围形成所述外周加强部。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造