[发明专利]压制成型用玻璃材料、其制造方法及光学元件制造方法有效
申请号: | 201210216041.5 | 申请日: | 2012-06-26 |
公开(公告)号: | CN102849939A | 公开(公告)日: | 2013-01-02 |
发明(设计)人: | 猪狩隆;安彦健也 | 申请(专利权)人: | HOYA株式会社 |
主分类号: | C03C3/00 | 分类号: | C03C3/00;C03B11/08 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 余刚;吴孟秋 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明涉及压制成型用玻璃材料、其制造方法以及光学元件的制造方法。该压制成型用玻璃材料具有由光学玻璃构成的芯部和覆盖该芯部的表面层。上述表面层包括压制成型时与成型模具成型表面接触的最表层以及与该最表层邻接的中间层,上述最表层是由三液法测量的表面自由能为75mJ/m2以下且膜厚不足15nm的硅氧化物膜,上述中间层是由与化学计量的硅氧化物的键半径差超过的膜材料形成的膜,其中当上述键半径差超过且在以下时其膜厚为5nm以下。 | ||
搜索关键词: | 压制 成型 玻璃 材料 制造 方法 光学 元件 | ||
【主权项】:
1.一种压制成型用玻璃材料,具有由光学玻璃构成的芯部和覆盖该芯部的表面层,所述压制成型用玻璃材料的特征在于,所述表面层包括压制成型时与成型模具成型表面接触的最表层以及与该最表层邻接的中间层,所述最表层是由三液法测量的表面自由能为75mJ/m2以下且膜厚不足15nm的硅氧化物膜,所述中间层是由与化学计量组成的硅氧化物的键半径差超过的膜材料形成的膜,当所述键半径差超过且在以下时,所述中间层的膜厚为5nm以下。
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