[发明专利]薄膜晶体管、其制造方法以及使用了该薄膜晶体管的显示装置有效

专利信息
申请号: 201210223500.2 申请日: 2012-06-29
公开(公告)号: CN103227206A 公开(公告)日: 2013-07-31
发明(设计)人: 楠敏明;浅沼春彦 申请(专利权)人: 日立电线株式会社
主分类号: H01L29/786 分类号: H01L29/786;H01L29/49;H01L29/45;C22C9/00;H01L21/336
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 许海兰
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种薄膜晶体管、其制造方法以及使用了该薄膜晶体管的显示装置。本发明的薄膜晶体管具备半导体膜、栅电极、源电极、以及漏电极,其中,栅电极、源电极以及漏电极内的至少1个电极具有包括由铜合金构成的第1电极层和由纯铜构成的第2电极层的2层构造,第1电极层的铜合金是针对铜添加了P和其他元素的铜合金,其他元素是从Mn、Mg、Ca、Ni、Zn、Si、Al、Be、Ga、In、Fe、Ti、V、Co、Zr、以及Hf内选择的至少1种元素,第1电极层的厚度是10nm以上50nm以下,第2电极层的厚度是300nm以上600nm以下,其他元素的浓度与第1电极层的厚度之积的范围是50at.%·nm以上400at.%·nm以下。
搜索关键词: 薄膜晶体管 制造 方法 以及 使用 显示装置
【主权项】:
一种薄膜晶体管,在基板上具备半导体膜、栅电极、源电极、以及漏电极,其特征在于:所述栅电极、所述源电极以及所述漏电极内的至少1个电极具有包括由铜合金构成的第1电极层和由纯铜构成的第2电极层的2层构造,所述第1电极层的铜合金是针对铜添加了磷和其他元素的铜合金,所述其他元素是从锰、镁、钙、镍、锌、硅、铝、铍、镓、铟、铁、钛、钒、钴、锆、以及铪内选择的至少1种元素,所述第1电极层的厚度是10~50nm,所述第2电极层的厚度是300~600nm,所述其他元素的浓度与所述第1电极层的厚度之积的范围是50~400at.%·nm,其中,上述浓度的单位是at.%,上述厚度的单位是nm。
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