[发明专利]薄膜晶体管、其制造方法以及使用了该薄膜晶体管的显示装置有效
申请号: | 201210223500.2 | 申请日: | 2012-06-29 |
公开(公告)号: | CN103227206A | 公开(公告)日: | 2013-07-31 |
发明(设计)人: | 楠敏明;浅沼春彦 | 申请(专利权)人: | 日立电线株式会社 |
主分类号: | H01L29/786 | 分类号: | H01L29/786;H01L29/49;H01L29/45;C22C9/00;H01L21/336 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 许海兰 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种薄膜晶体管、其制造方法以及使用了该薄膜晶体管的显示装置。本发明的薄膜晶体管具备半导体膜、栅电极、源电极、以及漏电极,其中,栅电极、源电极以及漏电极内的至少1个电极具有包括由铜合金构成的第1电极层和由纯铜构成的第2电极层的2层构造,第1电极层的铜合金是针对铜添加了P和其他元素的铜合金,其他元素是从Mn、Mg、Ca、Ni、Zn、Si、Al、Be、Ga、In、Fe、Ti、V、Co、Zr、以及Hf内选择的至少1种元素,第1电极层的厚度是10nm以上50nm以下,第2电极层的厚度是300nm以上600nm以下,其他元素的浓度与第1电极层的厚度之积的范围是50at.%·nm以上400at.%·nm以下。 | ||
搜索关键词: | 薄膜晶体管 制造 方法 以及 使用 显示装置 | ||
【主权项】:
一种薄膜晶体管,在基板上具备半导体膜、栅电极、源电极、以及漏电极,其特征在于:所述栅电极、所述源电极以及所述漏电极内的至少1个电极具有包括由铜合金构成的第1电极层和由纯铜构成的第2电极层的2层构造,所述第1电极层的铜合金是针对铜添加了磷和其他元素的铜合金,所述其他元素是从锰、镁、钙、镍、锌、硅、铝、铍、镓、铟、铁、钛、钒、钴、锆、以及铪内选择的至少1种元素,所述第1电极层的厚度是10~50nm,所述第2电极层的厚度是300~600nm,所述其他元素的浓度与所述第1电极层的厚度之积的范围是50~400at.%·nm,其中,上述浓度的单位是at.%,上述厚度的单位是nm。
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