[发明专利]内存抹除方法与其驱动电路有效
| 申请号： | 201210229773.8 | 申请日： | 2012-07-04 |
| 公开（公告）号： | CN103531239A | 公开（公告）日： | 2014-01-22 |
| 发明（设计）人： | 卢孝华;郭志明;王宇淳 | 申请（专利权）人： | 宜扬科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C16/14 | 分类号： | G11C16/14 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 李鹤松 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种内存抹除方法及其驱动电路，主要技术方案包括：当存储单元被选择抹除时，将被选择的存储区块中要被抹除的多个存储单元的栅极、被选择的存储堆中所有存储单元的漏极、与未被选择的多个存储单元的栅极设为浮置；提供正电压给被选择的存储堆的所有的源极及其所共享的P型井与N型井；提供负电压给存储区块中被选择要抹除的多个存储单元的栅极。藉此，利用栅极浮置可接收来至自P型井正电的耦合电压，达成未被选择的多个存储区块的抹除抑制，使得解码更趋精简且易以较小的布局面积达成更多存储区块或存储堆的扩展以及在存储区块中存储区段的分割。 | ||
| 搜索关键词： | 内存 方法 与其 驱动 电路 | ||
【主权项】：
一种内存抹除方法，其特征在于，当一存储堆的一存储区块的一列的多个存储单元被选择抹除时，所述内存抹除方法包括：将被选择的所述存储区块下未被选择要被抹除的存储单元的栅极、被选择的所述存储堆下的所有存储单元的漏极、及被选择的所述存储堆下的未被选择的存储区块的每一存储单元的栅极，设为浮置；提供一正电压给被选择的所述存储堆下的所有存储单元的源极、所共享的一P型井与一N型井；以及提供一负电压给被选择的所述存储区块的所述列下欲抹除的所述这些存储单元的栅极。
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