[发明专利]磁盘用玻璃基板、磁盘及磁盘的制造方法、垂直磁记录盘、硬盘有效
申请号: | 201210231202.8 | 申请日: | 2008-12-24 |
公开(公告)号: | CN102723084A | 公开(公告)日: | 2012-10-10 |
发明(设计)人: | 橘内浩二;前田高志 | 申请(专利权)人: | HOYA株式会社 |
主分类号: | G11B5/73 | 分类号: | G11B5/73;G11B5/84 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 吕林红 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明的磁盘用玻璃基板,在玻璃基板的比外周端靠中心部侧的表面任意选择两个部位的各区域中,在各区域的表面形状中,抽取形状波长为60~500μm波段的表面形状,把该表面形状的自乘平均平方根粗糙度Rq设为微小波动Rq时,所述各区域的微小波动Rq的差为0.02nm以下或所述各区域的微小波动Rq的标准偏差的差为0.04nm以下。 | ||
搜索关键词: | 磁盘 玻璃 制造 方法 垂直 记录 硬盘 | ||
【主权项】:
一种磁盘用玻璃基板,其特征在于,在玻璃基板的比外周端靠中心部侧的表面任意选择了两个部位的各区域中,在各区域的表面形状中抽取形状波长为60~500μm波段的表面形状,将该表面形状的自乘平均平方根设为微小波动(MW‑Rq)时,所述各区域的微小波动(MW‑Rq)的差为0.02nm以下,所述各区域的微小波动(MW‑Rq)的比为1.1以下,所述两个部位的区域分别是处在距基板中心的半径为31.5±0.05mm以及半径为25±3mm的范围内的沿着圆周方向的区域,微小波动(MW‑Rq)使用激光多普勒测振仪进行测定。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于HOYA株式会社,未经HOYA株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210231202.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:用于风力涡轮机的转矩限制联接器
- 下一篇:红外传感器封装结构及其封装方法