[发明专利]分光测定装置、分光测定用具及分光测定方法有效
申请号: | 201210236292.X | 申请日: | 2012-07-06 |
公开(公告)号: | CN102866120A | 公开(公告)日: | 2013-01-09 |
发明(设计)人: | 大久保章男;中村勤 | 申请(专利权)人: | 爱科来株式会社 |
主分类号: | G01N21/31 | 分类号: | G01N21/31;G01N21/01 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 高培培;车文 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 按照分光测定用具进行计测时,以光通过被检查物质的光路长度来校正吸光度。发光部(11)将多个波长的光向由分光测定用具(2)保持的被检查物质(3)照射。受光部(13)接受通过了被检查物质(3)的多个波长的光。检测部(14)根据由受光部(13)接受到的光来检测波长成分吸光度。光路长度计算部(16)将由检测部(14)检测到的波长成分吸光度中的对被检查物质(3)所包含的分析对象物质吸收的光的波长以外的波长的光进行吸收的色素所吸收的光的波长成分吸光度与该波长成分吸光度的确定了的值进行比较,算出通过被检查物质(3)的光路长度。校正部(17)以由光路长度计算部(16)算出的光路长度来校正色素吸收的光的波长以外的由检测部(14)检测到的波长成分吸光度,算出基准的光路长度的校正波长成分吸光度。 | ||
搜索关键词: | 分光 测定 装置 用具 方法 | ||
【主权项】:
一种分光测定装置,其特征在于,具备:将多个波长的光向由分光测定用具保持的被检查物质照射的单元;接受通过了由上述分光测定用具保持的被检查物质的多个波长的光的受光单元;从由上述受光单元接受到的上述多个波长的光检测波长成分吸光度的分光单元;光路长度计算单元,将由上述分光单元检测到的上述波长成分吸光度中的色素所吸收的光的波长成分吸光度与该波长成分吸光度的确定了的值进行比较,算出上述多个波长的光通过由上述分光测定用具保持的上述被检查物质的光路长度,其中,所述色素对上述被检查物质所包含的分析对象物质吸收的光的波长以外的波长的光进行吸收;及校正单元,以由上述光路长度计算单元算出的光路长度来校正上述色素吸收的光的波长以外的由上述分光单元检测到的波长成分吸光度,算出基准的光路长度的校正波长成分吸光度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于爱科来株式会社,未经爱科来株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210236292.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种地下室回填土的加固结构
- 下一篇:通信加密应用方法及通信系统