[发明专利]一种用于环形子孔径边界拼接的搜索方法有效
| 申请号： | 201210236293.4 | 申请日： | 2012-07-05 |
| 公开（公告）号： | CN102735187A | 公开（公告）日： | 2012-10-17 |
| 发明（设计）人： | 惠梅;段磊;龚诚;赵跃进 | 申请（专利权）人： | 北京理工大学 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100081 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提出一种用于环形子孔径边界拼接的搜索方法，在对拼接实验中干涉仪移动距离和子孔径内外边界进行定位，该方法主要应用于小口径干涉仪测量大口径非球面面形的系统中。该方法通过被测抛物面镜口径、相对孔径、干涉仪CCD采样分辨率确定清晰干涉条纹的子孔径边界条件，干涉仪轴向移动距离，并通过循环计算得到下一个边界，直到达到中止条件即临界点坐标超过非球面口径。该方法建立了子孔径划分模型，给出了模型的具体求解方法，使得检测过程能够可控、量化和可重复，也为后续实验数据的处理提供了便利。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 环形 孔径 边界 拼接 搜索 方法 | ||
【主权项】：
一种用于环形子孔径边界拼接的搜索方法，该方法应用于小口径干涉仪测量大口径非球面面形的系统中，其特征在于：非球面与干涉仪发出的参考球面波的切点两边有内外两个非球面度相同的点，利用非球面口径、相对孔径和CCD采样分辨率，确定各个子孔径出现干涉的内外边界。
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