[发明专利]一种监测目标物体缺陷的方法及设备有效
申请号: | 201210236820.1 | 申请日: | 2012-07-10 |
公开(公告)号: | CN102842131A | 公开(公告)日: | 2012-12-26 |
发明(设计)人: | 涂宏斌 | 申请(专利权)人: | 中联重科股份有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00 |
代理公司: | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人: | 黄志华 |
地址: | 410013 湖南*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | 本发明公开了一种监测目标物体缺陷的方法及设备,用以解决现有技术中存在的处理效率低且不能确定缺陷区域位置的问题。本发明实施例的方法包括:采集待检测目标物体的图像;对待检测目标物体进行着色处理;根据设定的聚类中心确定包含待检测目标物体的图像中属于每个聚类中心的像素点;根据属于同一个隶属区域的像素点确定该隶属区域对应的特征数据;根据每个隶属区域对应的特征数据及该特征数据对应的阈值,确定隶属区域是否为待检测目标物体的缺陷区域。本发明实施例根据属于每个设定的聚类中心的像素点组成的隶属区域的特征数据及阈值以确定待检测目标物体的缺陷区域,不仅处理速度快,而且能够确定待检测目标物体的缺陷区域的位置。 | ||
搜索关键词: | 一种 监测 目标 物体 缺陷 方法 设备 | ||
【主权项】:
一种监测目标物体缺陷的方法,其特征在于,所述方法包括:采集待检测目标物体的图像;对所述待检测目标物体进行着色处理;根据设定的聚类中心确定包含所述待检测目标物体的图像中属于每个聚类中心的像素点,其中属于同一个聚类中心的像素点组成该聚类中心的隶属区域;根据属于同一个隶属区域的像素点确定该隶属区域对应的特征数据;根据每个隶属区域对应的特征数据及该特征数据对应的阈值,确定所述隶属区域是否为所述待检测目标物体的缺陷区域。
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