[发明专利]半导体器件及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201210239365.0 申请日: 2012-07-10
公开(公告)号: CN102881680A 公开(公告)日: 2013-01-16
发明(设计)人: 松木浩久;作间正雄 申请(专利权)人: 富士通半导体股份有限公司
主分类号: H01L23/552 分类号: H01L23/552;H01Q1/22
代理公司: 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 代理人: 柳春雷
地址: 日本神*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明公开一种半导体器件及其制造方法。半导体器件(半导体模块)包括电路板(模块板)和安装在电路板上的半导体元件。阻挡电磁波的屏蔽层设置在半导体元件的上表面上,并且天线元件设置在屏蔽层的上方。半导体元件和天线元件通过连接部分电连接到彼此。此结构使得半导体器件减小尺寸,并具有电磁波阻挡功能和天线功能。
搜索关键词: 半导体器件 及其 制造 方法
【主权项】:
一种半导体器件,包括:电路板;半导体元件,其安装在所述电路板上;屏蔽层,其设置在所述半导体元件的上表面上;天线元件,其设置在所述屏蔽层的上方;以及连接部分,其经过所述屏蔽层,并电连接所述半导体元件和所述天线元件。
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